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陈学梅

作品数:2 被引量:4H指数:1
供职机构:苏州大学物理科学与技术学院(能源学院)更多>>
发文基金:国家自然科学基金江苏省高校自然科学研究项目更多>>
相关领域:电子电信理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇CU掺杂
  • 2篇掺杂
  • 2篇ZNO薄膜
  • 1篇电学
  • 1篇电学性质
  • 1篇透光性
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米ZN
  • 1篇光学
  • 1篇光学性
  • 1篇光学性质
  • 1篇光致
  • 1篇光致发光
  • 1篇发光
  • 1篇XO
  • 1篇CU

机构

  • 2篇苏州大学
  • 1篇江苏省薄膜材...

作者

  • 2篇吴雪梅
  • 2篇诸葛兰剑
  • 2篇陈学梅
  • 1篇徐庆岩
  • 1篇吴兆丰

传媒

  • 1篇微细加工技术
  • 1篇苏州大学学报...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2008
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
纳米Zn_(1-x)Cu_xO薄膜的结构及光学性质被引量:1
2009年
采用射频磁控溅射制备了不同Cu掺杂浓度的ZnO薄膜.以X射线衍射、扫描电镜等对薄膜的结构和形貌进行了表征,XRD和SEM测试结果显示Cu掺杂量为5.0 at.%时,Zn0.95Cu0.05O薄膜呈纳米柱状结构.同时也对薄膜的光致发光(PL)进行了研究.结果表明,406 nm的发光峰源于带边自由激子电子的复合,440 nm的发光峰则和薄膜中的锌间隙Zni缺陷有关.
陈学梅诸葛兰剑吴雪梅
关键词:ZNO薄膜CU掺杂光致发光
Cu掺杂浓度对ZnO薄膜的结构、透光性和电学性质的影响被引量:3
2008年
采用射频磁控溅射方法在导电玻璃和石英衬底上制备了未掺杂和不同Cu掺杂量的ZnO薄膜。XRD显示,适当的Cu掺杂增强了ZnO的(002)衍射峰的强度;用紫外分光光度计测量了样品的透光性,结果显示,随掺杂量的增加,其透光性减弱,但在Cu掺杂量为9.6%时其透光性还在60%以上。用四探针测量了样品的表面电阻率,薄膜的电阻率随Cu掺杂量的增加而增加。
徐庆岩吴雪梅诸葛兰剑陈学梅吴兆丰
关键词:CU掺杂ZNO薄膜
共1页<1>
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