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杜传兴

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:同济大学电子与信息工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 2篇INASSB
  • 2篇长波
  • 1篇电学
  • 1篇电学性质
  • 1篇退火
  • 1篇退火处理
  • 1篇波长
  • 1篇长波长

机构

  • 2篇同济大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 2篇杜传兴
  • 2篇高玉竹
  • 2篇龚秀英
  • 1篇方维政
  • 1篇周冉

传媒

  • 1篇材料热处理学...
  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2012
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
退火处理对长波长InAsSb材料电学性能的影响
2014年
研究长波长InAsSb半导体材料在退火处理前、后,傅里叶变换红外(FTIR)透射光谱、组份元素In、Sb和As在外延层中的分布以及电学性质的变化。用熔体外延(ME)技术,在InAs衬底上生长InAs0.05Sb0.95外延层,外延层的厚度达到100μm。在350℃下,在氢气氛中对样品进行了11h的退火。测量结果表明,退火处理使InAsSb样品的电子迁移率从300K下的43600cm2/(V·s)提高到77K下的48300cm2/(V·s),材料的电学性能及元素分布均匀性得到了明显改善。
高玉竹周冉龚秀英杜传兴
关键词:INASSB退火处理电学性质
长波InAsSb材料的结构特性研究
2012年
用熔体外延(ME)法在InAs衬底上生长了InAsSb外延层,用扫描电子显微镜(SEM)观察了样品的横截面,并测量出外延层的厚度达到100μm,用X-射线衍射(XRD)谱研究了InAsSb外延层的结构性质。测量结果表明,InAs/InAs0.023Sb0.977单晶具有相当完美的晶体取向结构及良好的结晶质量,这可能得益于100μm的外延层厚度基本消除了外延层与衬底之间晶格失配的影响。电子探针微分析(EPMA)测量的元素分布图像显示,Sb(锑)元素在外延层中的分布相当均匀。
杜传兴高玉竹龚秀英方维政
关键词:INASSB
共1页<1>
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