丁晨
- 作品数：75 被引量：33H指数：3
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信机械工程一般工业技术更多>>
- 用于校准在片高值电阻测量系统的标准件及其制备方法
- 本发明公开了一种用于校准在片高值电阻测量系统的标准件及其制备方法，涉及计量技术领域。本发明的标准件包括衬底，在衬底上注入硼离子，在注入硼离子的衬底上设有若干对金属电极，每一对金属电极构成一个独立单元，在同一个衬底上的所有...
- 刘岩乔玉娥郑世棋梁法国吴爱华翟玉卫丁晨程晓辉李盈慧
- 文献传递
- 图像照明分布的修正方法、修正装置及终端
- 本发明适用于显微热成像技术领域，提供了一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质。其中，所述修正方法包括：获取被测目标的待修正图像；获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布...
- 翟玉卫韩伟丁晨丁立强田秀伟吴爱华
- 文献传递
- 一种像素畸变的校正方法、校正装置及终端
- 本发明适用于校正技术领域，提供了一种像素畸变的校正方法、校正装置、终端及计算机可读存储介质，所述校正方法包括：获取被测目标的多帧图像，分别获取每帧图像上对应于指定像素位置的像素点的像素值，得到多个像素值，确定所述多个像素...
- 梁法国邹学锋刘岩郑世棋吴爱华丁晨荆晓冬
- 文献传递
- 新型表面电阻测试系统研究
- 2023年
- 针对现有防静电台面检测过程效率低、操作失误率高的问题,本文通过对检测数据采集存储、报告及合格标识自动生成等模块的研究,设计出一套新型表面电阻测试系统。该系统适用于大批量防静电台面集中检测,较传统的检测过程,省去了人工撰写原始数据、合格标识等步骤,简化了检测报告出具的方式,检测过程中可节约近30%的时间,能够极大地提高检测效率。通过为半导体生产厂家、各防静电检测机构提供行之有效的方案,解决了半导体生产单位EPA区域内大批量防静电台面检测的难题。
- 任宇龙荆晓冬丁晨乔玉娥刘岩吴爱华
- 关键词：表面电阻自动化
- 用热反射热成像技术测量封装GaN/AlGaN HEMT芯片热阻
- 2022年
- 为解决封装GaN/AlGaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的芯片热阻难以测量的问题,提出了采用热反射热成像测温装置测量芯片热阻的方法。采用365 nm波长紫外发光二极管(LED)作为测温装置的光源测量芯片沟道区域GaN材料的温度,以近似峰值结温;采用530 nm波长可见光LED作为光源测量芯片底面金属的温度。测温过程中,采用图像配准技术和自动重聚焦技术调整由于热膨胀引起的位置偏移和离焦。对芯片底面金属测温结果进行了误差分析。最后,在4个加热功率下测量了芯片热阻,测量结果显示芯片热阻与总热阻之比超过52%。
- 翟玉卫张亚民刘岩韩志国丁晨吴爱华
- 关键词：热反射结温热阻
- 校准用晶圆级在片电阻标准样片及制备方法
- 本发明公开了一种校准用晶圆级在片电阻标准样片及制备方法，属于半导体工艺过程监控设备校准技术领域。所述校准用晶圆级在片电阻标准样片，包括：晶圆片和制作在所述晶圆片上的多个芯片单元；所述芯片单元的结构中包括：多组不同量级的标...
- 乔玉娥丁晨付兴中丁立强杜蕾范雅洁吴爱华
- 静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备
- 本发明提供了一种静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备，同时获取被光源区域A的图像和被测目标区域B的图像，通过光源区域A的像素读数，获取被测目标区域B的漂移修正系数；在M个不同温度下获取每个温度下被测目标区域B的N帧图...
- 刘岩梁法国翟玉卫赵琳丁晨
- 文献传递
- 半导体分析仪0.1pA微小电流校准及不确定度分析
- 2019年
- 本文以半导体特性分析仪B1500A为被校对象,针对其ASU小电流测量模块的微小电流0.1 pA点,采用校准电流参数的间接测量法,使用低电流适配器、100GΩ高值电阻器和高精度数字多用表组建测量系统,实现该点的校准。根据测量模型,对校准结果各影响量逐一分析,评定校准结果的测量不确定度,利用传递比较法对测量不确定度进行验证,结果表明该评定方法合理、有效。
- 丁立强丁晨郑世棋乔玉娥李灏田秀伟
- 关键词：校准方法测量不确定度评定校准结果高值电阻不确定度分量
- 直流稳定电源计量插头
- 本实用新型提供了一种直流稳定电源计量插头，包括电压长杆、套设于电压长杆上的绝缘套筒、套设于绝缘套筒上的电流套筒，及套设于电流套筒上的绝缘外壳；电压长杆的一端设有用于与直流稳定电源的插孔底端抵接并与所述插孔内壁接触的导电头...
- 荆晓冬郑世棋任宇龙杜蕾范雅洁丁晨李盈慧
- 多指栅型晶体管热阻测试方法、装置及终端设备
- 本发明提供了一种多指栅型晶体管热阻测试方法、装置及终端设备，该方法包括：获取多指栅型晶体管各个栅指的第一温升，并根据各个栅指的第一温升确定各个栅指对应的温度权值；其中，多指栅型晶体管各个栅指的第一温升由显微红外热像仪测量...
- 翟玉卫郑世棋李灏丁晨丁立强韩伟荆晓冬
