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梁法国

作品数:290 被引量:189H指数:9
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
发文基金:上海市自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术机械工程自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 190篇专利
  • 72篇期刊文章
  • 21篇会议论文
  • 5篇科技成果

领域

  • 76篇电子电信
  • 39篇机械工程
  • 39篇一般工业技术
  • 37篇自动化与计算...
  • 15篇电气工程
  • 6篇理学
  • 3篇文化科学
  • 2篇化学工程
  • 1篇经济管理
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇医药卫生

主题

  • 103篇校准
  • 50篇终端
  • 34篇终端设备
  • 31篇S参数
  • 28篇校准方法
  • 28篇半导体
  • 26篇不确定度
  • 23篇图像
  • 22篇噪声
  • 21篇矢量
  • 21篇网络分析仪
  • 20篇测量系统
  • 19篇电阻
  • 19篇矢量网络分析...
  • 19篇标准件
  • 18篇噪声参数
  • 18篇计量学
  • 16篇串扰
  • 15篇仪器
  • 15篇热成像

机构

  • 282篇中国电子科技...
  • 2篇河北半导体研...
  • 2篇西安电子科技...
  • 2篇上海市计量测...
  • 2篇中国电子科技...
  • 2篇北京经纬恒润...
  • 1篇南京理工大学
  • 1篇天津大学
  • 1篇信息产业部电...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇电子工业部
  • 1篇信息产业部
  • 1篇中国计量大学
  • 1篇中国西安卫星...
  • 1篇北京无线电计...
  • 1篇罗德与施瓦茨...
  • 1篇北京中微普业...

作者

  • 288篇梁法国
  • 192篇吴爱华
  • 111篇栾鹏
  • 107篇王一帮
  • 105篇刘晨
  • 88篇孙静
  • 70篇翟玉卫
  • 63篇郑世棋
  • 63篇刘岩
  • 61篇韩志国
  • 59篇赵琳
  • 59篇李锁印
  • 54篇乔玉娥
  • 53篇许晓青
  • 46篇冯亚南
  • 38篇张立飞
  • 27篇丁立强
  • 26篇孙晓颖
  • 24篇邹学锋
  • 24篇丁晨

传媒

  • 18篇计量学报
  • 10篇宇航计测技术
  • 9篇计算机与数字...
  • 8篇中国测试
  • 7篇半导体技术
  • 6篇2013无线...
  • 5篇微纳电子技术
  • 5篇2015国防...
  • 4篇计测技术
  • 2篇半导体情报
  • 2篇微波学报
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇电子测量技术
  • 1篇红外
  • 1篇上海计量测试
  • 1篇电子器件
  • 1篇光学仪器
  • 1篇传感器与微系...
  • 1篇2010国防...
  • 1篇中国电子学会...

年份

  • 11篇2024
  • 18篇2023
  • 33篇2022
  • 25篇2021
  • 38篇2020
  • 42篇2019
  • 21篇2018
  • 17篇2017
  • 23篇2016
  • 28篇2015
  • 8篇2014
  • 13篇2013
  • 3篇2011
  • 3篇2010
  • 1篇2006
  • 1篇2002
  • 1篇2001
  • 1篇1997
  • 1篇1996
290 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于VEE的信号发生器自动校准软件
2015年
主要介绍了信号发生器校准系统的组成、自动校准软件的总体结构、软件设计方法和软件验证。该软件采用模块化设计,结构清晰;程控命令库和归一化测试流程设计解决了自动校准软件对各种型号信号发生器的兼容性问题;模板文件设计符合实际工作需要,数据集Data Set和Data Grid控件的设计实现了测试数据的存储和显示功能。结果表明,该软件实现了信号发生器的自动校准。
孙静刘晨林升韩利华梁法国邵强
关键词:VEE信号发生器自动校准
在片S参数测量系统校准技术初探
在片S参数测量系统在半导体行业裸芯片测量中得到了广泛的应用,但是国内在片S参数测量系统无法有效溯源的现状影响了高端裸芯片产品的研发进度.为了建立该类系统的校准能力,本文研制了微带形式的在片校准件、在片传递标准件和在片检验...
吴爱华孙静刘晨梁法国郑延秋
关键词:裸芯片校准技术
文献传递
位移偏差测量方法
本发明提供一种位移偏差测量方法。应用于探针台的圆形载片台,载片台的直径为第一长度,该方法包括:将标准测量尺沿预设方向平行固定在载片台上;其中,标准测量尺的初始刻度处于载片台区域中;控制载片台沿预设方向移动预设距离,并通过...
霍晔吴爱华王一帮刘晨栾鹏梁法国孙静陈晓华张立飞丁立强
在片校准件模型及在片校准件模型中参数确定的方法
本发明适用于晶原级半导体器件微波特性测量技术领域,提供了一种在片校准件模型及在片校准件模型中参数确定的方法,该在片校准模型包括:表征在片校准件串扰的电阻和表征在片校准件串扰的电容;所述表征在片校准件串扰的电阻与原校准件模...
王一帮吴爱华梁法国刘晨霍晔栾鹏孙静李彦丽
矢量网络分析仪S参数测量不确定度的确定方法
本发明公开了一种矢量网络分析仪S参数测量不确定度的确定方法,涉及矢量网络分析仪的校准方法技术领域。所述方法通过MCM仿真实现,避免了使用GUM法评定不确定度时需要考虑S参数间相关性的问题和使用经验算法得到的不确定度不完善...
韩志国梁法国栾鹏吴爱华李锁印孙晓颖冯亚南许晓青
文献传递
基于红外测温技术的微波功率器件降温曲线测量系统被引量:5
2016年
为了有效实现对微波功率器件的热特性分析,在瞬态红外设备基础上开发了一套用于获取微波功率器件降温曲线的测量系统。分析了瞬态红外设备的原理,并根据降温曲线测量的需要对设备进行改造,开发了数据采集和处理系统,扩展了原有设备的功能,重新设计了测温流程、数据处理算法和相应的软件系统,实现了对GaN HEMT器件不同工作条件下降温曲线的测量。测量的降温曲线满足现有国际标准JESD51系列的要求,在器件热特性分析方面具有较好的应用前景。
刘岩翟玉卫范雅洁程晓辉梁法国
关键词:红外测温技术电学法
在片S参数测量系统校准方法及电子设备
本发明提供一种在片S参数测量系统校准方法及电子设备。该方法包括:采用待校准的在片S参数测量系统的两个端口分别测量在片直通标准、在片负载标准和在片反射标准,对应得到直通S参数、负载S参数和反射S参数;基于转移参数与S参数的...
王一帮齐志华吴爱华霍晔梁法国栾鹏刘晨李彦丽孙静
可焊性试验台的校准及不确定度分析
性试验台是一种热学的专用测试设备,主要用来测定那些在连接时要用低熔点焊接的器件引线的可焊性,以及确定元件承受由焊接元件引线端头产生的热应力的能力.文章给出了对可焊性试验台的温度和夹具速度进行校准的方法,并给出了测量不确定...
赵琳梁法国李锁印许晓青赵革艳
关键词:校准方法技术指标测量不确定度
一种图像配准方法、图像配准装置及终端
本发明适用于图像处理技术领域,提供了一种图像配准方法、图像配准装置及终端,所述图像配准方法包括:获取平移图样,根据平移图样上的每个平移点对目标图像进行平移配准,得到多个候选图像,计算各个候选图像与指定基准图像的互相关度,...
刘岩许晓青邹学锋丁立强荆晓冬梁法国乔玉娥
文献传递
微波探针S参数相位的确定方法、装置、终端及存储介质
本发明提供一种微波探针S参数相位的确定方法、装置、终端及存储介质。该方法包括:采用校准后的矢量网络分析仪,在微波探针的探针尖端分别测量在片开路校准件、在片短路校准件以及在片负载校准件的S参数,得到在片开路校准件、在片短路...
霍晔吴爱华王一帮梁法国刘晨栾鹏孙静陈晓华张晓云李彦丽
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