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张广涵

作品数:5 被引量:1H指数:1
供职机构:南京大学电子科学与工程学院超导电子研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 4篇隧道结
  • 4篇AL
  • 3篇ALO
  • 3篇超导
  • 3篇X
  • 2篇超导隧道结
  • 1篇电路
  • 1篇刻蚀
  • 1篇NB
  • 1篇

机构

  • 5篇南京大学

作者

  • 5篇曹春海
  • 5篇吴培亨
  • 5篇姚晓栋
  • 5篇张广涵
  • 4篇许伟伟
  • 3篇翟计全
  • 2篇许钦印
  • 2篇康琳
  • 2篇孙国柱
  • 2篇陈健
  • 2篇房玉荣
  • 1篇王林
  • 1篇李永超

传媒

  • 3篇低温与超导

年份

  • 2篇2015
  • 1篇2014
  • 2篇2013
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
超导铌结电路原型样品的制备与研究
姚晓栋曹春海张广涵翟计全吴培亨
Nb/Al-AlO_x/Nb超导隧道结的制备被引量:1
2015年
在高阻硅衬底上采用光刻、直流磁控溅射、反应离子刻蚀(RIE)、等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)等方法研究制备了高质量的Nb/Al-Al Ox/Nb超导隧道结。在4.2K下,测量了直径8μm的圆形结样品,得到临界电流密度约为1.6k A/cm2,漏电流约为50μA。制结工艺流程的重复性较好。
姚晓栋曹春海张广涵翟计全康琳许伟伟陈健吴培亨
关键词:超导隧道结
Al/AlO_x/Al隧道结简化制备技术
2015年
研究了一种在高阻硅衬底上Al/Al Ox/Al超导隧道结简化制备技术。通过一次光刻镀膜完成隧道结结区的确定和上引线的制备,工艺流程简单重复。在0.3K温度下测量了隧道结样品的I-V特性,能隙电压Vg为0.37m V,超导临界电流密度约为12A/cm2。
张广涵曹春海翟计全姚晓栋李永超陈健康琳许伟伟吴培亨
关键词:隧道结
Al/AlO_x/Al超导隧道结的制备工艺研究
2013年
研究了在高阻硅衬底上Al/AlO x/Al隧道结的制备技术,采用电子束蒸发制备Al/AlO x/Al三层材料,湿法刻蚀制备底电极和上电极以及电路连线,PECVD法生长绝缘层(SiO2)保护超导隧道结,RIE刻蚀上电极窗口。在400mK温度下测量了Al/AlO x/Al隧道结样品,得到了较好的隧道结I-V曲线,能隙电压Vg为0.325mV,超导临界电流I c为55nA,漏电流为5nA。
房玉荣曹春海许钦印王林张广涵姚晓栋许伟伟孙国柱吴培亨
关键词:ALAL超导隧道结
Al/AlOx/Al超导隧道结制备
由于全铝结两字比特电路具有较长的消相干时间,用它来构建超导量子计算电路成为研究热点.我们研究了在高阻硅衬底上Al/AlOx/Al隧道结的制备技术.采用电子束蒸发技术原位制备Al/Al-AlOx/Al三层材料;采用光刻技术...
房玉荣曹春海许钦印张广涵姚晓栋孙国柱许伟伟吴培亨
共1页<1>
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