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常建平

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：武汉理工大学测试中心更多>>
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合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱法
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱法
  • 1篇光谱法测定
  • 1篇厚度
  • 1篇TIO_2薄...
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇X射线荧光光...

机构

  • 1篇武汉理工大学

作者

  • 1篇陶光仪
  • 1篇常建平
  • 1篇谢毅

传媒

  • 1篇科学技术与工...

年份

  • 1篇2006
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO_2薄膜的组分和厚度被引量：2
2006年
在X射线荧光(XRF)分析中应用基于基本参数法的FP-Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99.999%石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜厚度及成分是可行的。
常建平谢毅陶光仪
关键词：X射线荧光光谱法
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