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陶光仪

作品数:49 被引量:279H指数:9
供职机构:中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市科学技术发展基金更多>>
相关领域:理学天文地球化学工程金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 39篇期刊文章
  • 10篇会议论文

领域

  • 36篇理学
  • 4篇天文地球
  • 4篇化学工程
  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 2篇历史地理
  • 1篇冶金工程

主题

  • 36篇光谱
  • 33篇荧光
  • 32篇荧光光谱
  • 26篇X射线荧光
  • 25篇X射线荧光光...
  • 13篇光谱分析
  • 12篇荧光光谱分析
  • 12篇X射线荧光光...
  • 9篇X射线
  • 7篇悬浮液进样
  • 7篇进样
  • 6篇光谱法
  • 4篇悬浮液
  • 4篇荧光光谱仪
  • 4篇射线
  • 4篇计算机
  • 4篇痕量
  • 4篇X-射线
  • 3篇电感耦合
  • 3篇电感耦合等离...

机构

  • 47篇中国科学院
  • 9篇复旦大学
  • 1篇国家地质实验...
  • 1篇广州海洋地质...
  • 1篇浙江大学
  • 1篇武汉理工大学
  • 1篇中国科学院生...
  • 1篇安徽省地质实...

作者

  • 49篇陶光仪
  • 25篇吉昂
  • 15篇卓尚军
  • 9篇汪正
  • 8篇邱德仁
  • 7篇杨芃原
  • 3篇殷之文
  • 3篇石琼
  • 3篇刘红超
  • 2篇王庆广
  • 2篇刘尚华
  • 2篇马光祖
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  • 1篇邹慧君
  • 1篇韩小元
  • 1篇陆晓明
  • 1篇张学华
  • 1篇张仕定
  • 1篇张中义
  • 1篇陈士萍

传媒

  • 10篇分析化学
  • 8篇光谱学与光谱...
  • 4篇化学学报
  • 3篇分析试验室
  • 2篇光谱实验室
  • 2篇理化检验(化...
  • 2篇无机材料学报
  • 2篇第五届全国X...
  • 2篇第五届全国X...
  • 1篇钢铁
  • 1篇岩矿测试
  • 1篇冶金分析
  • 1篇分析测试仪器...
  • 1篇光谱仪器与分...
  • 1篇中国搪瓷
  • 1篇科学技术与工...
  • 1篇理财(经济)
  • 1篇'02古陶瓷...
  • 1篇第八届中国化...
  • 1篇中国化学会第...

年份

  • 1篇2015
  • 2篇2009
  • 1篇2008
  • 6篇2006
  • 2篇2005
  • 1篇2004
  • 2篇2003
  • 5篇2002
  • 2篇2001
  • 1篇2000
  • 6篇1999
  • 3篇1998
  • 2篇1997
  • 2篇1996
  • 2篇1995
  • 4篇1994
  • 2篇1992
  • 3篇1991
  • 1篇1990
  • 1篇1989
49 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
X射线荧光光谱分析中基本参数的优化及其应用
本文对X射线荧光光谱分析中基体效应校正采用的理论影响系数法以基本参数进行了比较和优化,并考察了其对理论影响系数的准确性和实际样品分析结果准确性的影响.
卓尚军陶光仪吉昂
关键词:X射线荧光光谱分析
文献传递
薄膜及镀层试样组分和厚度的同时测定-XRF的重要应用领域之一
The brief history and principle of composition and thickness simultaneous determination on thin film and coati...
陶光仪
关键词:COMPOSITIONTHINFILMCOATINGXRF
用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO_2薄膜的组分和厚度被引量:2
2006年
在X射线荧光(XRF)分析中应用基于基本参数法的FP-Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99.999%石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜厚度及成分是可行的。
常建平谢毅陶光仪
关键词:X射线荧光光谱法
X射线荧光光谱法测定萤石中的氟、钙及二氧化硅被引量:20
1997年
提出用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融制样,以X-射线荧光光谱法定量测定萤石中CaF2、总钙和二氧化硅。经实际试样和标准试样检测,本法可用于实际试样分析,在CaF2含量为77%~98%时,其最大误差为0.60%。
陆晓明吉昂陶光仪
关键词:萤石X射线荧光光谱
铌酸钾锂的X射线荧光光谱分析被引量:2
1999年
提出了一种用X射线荧光光谱分析铌酸钾锂中Li_2O,K_2O和Nb_2O_5的方法.采用deJongh校正方程,将Li_2O当作消去组分,所得Li_2O的结果与ICP-AES法一致.同时建立了非破坏分析校正曲线.
卓尚军陶光仪殷之文吉昂
关键词:氧化锂氧化钾氧化铌X射线荧光光谱
提高X射线荧光理论计算相对强度准确度的研究被引量:4
1998年
通过与合成标样实测相对强度的比较,研究了影响XRF中理论计算相对强度准确度的主要因素,提出了μ+τ计算模式和一个混合的质量吸收系数(MAC)算法。
陶光仪卓尚军吉昂
关键词:X射线荧光光谱
含硫化合物的SK_αX射线荧光光谱的研究被引量:4
1996年
在RIGAKU 3070X射线光谱仪(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK_a谱;用统计试验最优化方法处理实验数据,得到了谱峰的峰位,非对称因子,半高宽度等信息;并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷.讨论了硫化合物SK_a谱化学位移的变化规律及原因.线性回归分析结果表明:硫化物SK_a谱的化学位移与价态,硫的含氧化合物SK_a谱的化学位移与O/S原子数比之间都有较好的线性关系;并给出了线性相关系数及线性方程.
刘红超吉昂陶光仪马光祖王庆广
关键词:X射线荧光光谱化学位移化合物
汝官窑的釉色、质感及鱼鳞纹
2015年
汝官窑的烧造时间只有20多年,据不完全统计,目前留传下来的汝官窑产品不足100件,大部分收藏于台北故宫博物院、北京故宫博物院、上海博物馆、英国大维德基金会及日本的一些博物馆中。由于实物资料和历史文献资料都比较少,人们对汝官窑的真面目知之不多。
张福康陶光仪袁海清
关键词:汝官窑台北故宫博物院北京故宫博物院釉色质感历史文献资料
X射线荧光光谱分析中的基本参数法
1968年美国分析化学杂志(Anal.Chem.)第40 卷上连续发表了美国海军研究实验室科学家的两篇重要文章,第一篇首次测定了波长色散X射线荧光光谱仪用X光管原级谱的强度分布,第二篇则首次提出了X射线荧光(XRFS)光...
陶光仪
关键词:X射线荧光光谱分析基本参数法
文献传递
能量色散X射线荧光光谱在钢铁工业中的应用被引量:14
2001年
评述了能量色散 X射线荧光光谱仪的发展现状及其在钢铁分析中应用 ,并详细介绍了飞利浦公司生产的能量色散 X射线荧光光谱仪 Mini Pal(使用 Si- PIN探测器 )在合金和高炉炉料分析中的应用 ,以及作者研制的 SZ- 2型低分辨率能量色散 X射线荧光光谱仪在镀层厚度分析中的应用情况 ,表明这类仪器可以满足钢铁工业中原料、镀层厚度及组成。
吉昂卓尚军陶光仪
关键词:钢铁分析
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