宋国栋
- 作品数：18 被引量：5H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术航空宇航科学技术医药卫生更多>>
- 直接数字频率合成器电路动态参数测试系统及方法
- 本发明公开了一种DDS电路动态参数测试系统及方法，该方法包括：测试系统向设置有待测试的DDS电路的DUT板输入与DDS电路功能对应的测试向量，并控制高相噪信号发生器、和低噪声的电源生成DUT板需要的时钟信号和电压；DUT...
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- 大规模芯片内嵌存储器的BIST测试方法研究
- 2024年
- 随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memory build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的Mbist方法,通过3个计数器驱动的可编程Mbist控制模块和算法模块集成8种测试算法,提高故障覆盖率和灵活性。采用Verilog语言设计了所提出的Mbist电路,通过Modelsim对1 Kbit×36的BRAM进行仿真并在自动化测试系统上进行了实际测试。实验结果表明,该方法对BRAM进行测试能够准确定位故障位置,故障的检测率提高了15.625%,测试效率提高了26.1%,灵活性差的问题也得到了很大改善。
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- 关键词：存储器内建自测试
- 一种基于TCL命令行的亿门级FPGA互连线测试方法
- 本发明涉及亿门级FPGA技术领域，具体涉及一种基于TCL命令行的亿门级FPGA互连线测试方法。包括：基于TCL命令行进行工程创建和亿门级FPGA器件选型、基于TCL命令行进行输入输出端口创建、电平和驱动确定、基于TCL命...
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- 一种塑封基板类器件翻新件无损鉴别方法
- 本发明公开一种塑封基板类器件翻新件无损鉴别方法，属于翻新鉴别领域。首先借助设备与工具，检查器件表面是否存在翻新的物理特征，或与正品技术文件规定的外部特征存在差异性；接着采用声学扫描电子显微镜对样品内部区域进行无损扫描检查...
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- 一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法
- 本发明涉及微电子集成电路技术领域，特别涉及一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法。包括：芯粒检测器，包括上层芯粒检测器和下层芯粒检测器；每个单芯粒的上层芯粒检测器和下层芯粒检测器接收并输出来自相邻单芯粒的下层...
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- 一种基于新型BIST的FPGA逻辑资源测试方法及其结构
- 本发明涉及集成电路技术领域，特别涉及一种基于新型BIST的FPGA逻辑资源测试方法及其结构，包括如下步骤：确定待测FPGA内部资源的被测模块BUT和比较模块BUC；基于硬件描述语言设计BIST电路结构，即：通过FPGA的...
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- 一种基于温湿度的电子产品高加速寿命试验评价方法
- 本发明公开一种基于温湿度的电子产品高加速寿命试验评价方法，属于电子产品可靠性试验领域。首先试验前的准备工作，针对产品应用环境、结构特征与基础性能参数进行调研、测试与信息收集；然后依据准备工作进行恒温湿度步进试验与高温高湿...
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- 基于新型BIST的LUT测试方法研究
- 2024年
- 针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试,提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入,利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较,实现对被测模块功能的快速测试,并在Vivado 2018.3中完成了仿真测试。通过ATE测试平台,加载设计的BIST测试向量,验证结果与仿真完全一致,仅2次配置即可实现LUT的100%覆盖率测试。此外,还构建了LUT故障注入模拟电路,人为控制被测模块的输入故障,通过新型BIST的测试方法有效诊断出被测模块功能异常,实现了准确识别。以上结果表明,该方法不仅降低了测试配置次数,而且能够准确识别LUT功能故障,适用于大规模量产测试。
- 林晓会解维坤宋国栋
- 关键词：查找表内建自测试线性反馈移位寄存器自动测试设备
- 频率合成器(DDS)电路动态参数测试系统
- 2018年
- 动态参数是频率合成器(DDS)电路的关键指标,文章针对目前动态参数测试的现状,提出动态参数测试系统设计需求,并详细介绍了基于NI为核心的动态参数测试系统的设计,主要分为硬件平台和软件设计两部分,提出注意要求,希望对DDS电路动态参数测试开发有一定的参考意义。
- 宋国栋刘奇
- 关键词：动态参数测试系统
- 一种应用于高端芯片失效分析的缺陷定位方法
- 本发明涉及一种应用于高端芯片失效分析的缺陷定位方法，包括如下步骤：(1)针对16nm以下先进工艺节点芯片的失效分析定位问题，依托多种设备协同开展晶体管级缺陷区域定位技术；(2)出现失效问题的芯片置于ATE测试机台中进行相...
- 孟智超李振远贾沛万永康宋国栋
