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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 1篇信号
  • 1篇信号处理
  • 1篇信号处理器
  • 1篇远程
  • 1篇在轨测试
  • 1篇数字信号
  • 1篇数字信号处理
  • 1篇数字信号处理...
  • 1篇闩锁
  • 1篇抗辐射
  • 1篇加载
  • 1篇加载技术
  • 1篇编程
  • 1篇TMS320...
  • 1篇API
  • 1篇F2812
  • 1篇FLASH编...

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇黄旭东
  • 1篇钱浩
  • 1篇陈嘉鹏
  • 1篇蔡洁明
  • 1篇宋国栋
  • 1篇陈卫
  • 1篇王月玲
  • 1篇韦凯

传媒

  • 3篇电子与封装

年份

  • 1篇2016
  • 2篇2014
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于429总线的TMS320F2812程序的远程加载技术被引量:5
2014年
介绍了TI公司数字信号处理器TMS320F2812的引导方式、Flash编程方法、Flash启动流程。在此基础上提出了一种基于429总线的TMS320F2812程序的远程加载方案,并详细阐述了软硬件的实现过程。该方案摆脱了Flash编程时对JTAG接口、RS232接口的依赖,非常适用于军用领域,具有较大的实用价值。
黄旭东韦凯钱浩陈卫
关键词:F2812FLASH编程
宇航元器件在轨测试研究被引量:1
2016年
对国内宇航元器件应用现状进行调查研究,阐述了宇航元器件进行在轨测试的必要性。对宇航元器件在轨测试的方法进行探讨,列举了目前常用的在轨测试方法。重点对宇航元器件进行在轨测试参数选择,对实施方案进行分析,同时对航天元器件在轨参数进行了研究。随着航天事业不断发展,宇航元器件在轨测试将会得到更多的关注和应用,将为实现宇航元器件的自主发展打下基础。
陈嘉鹏蔡洁明黄旭东宋国栋
关键词:在轨测试抗辐射
一款数字信号处理器的失效分析研究被引量:1
2014年
集成电路在实际应用中,经常会出现工作异常甚至失效的情况。当电路发生失效时,需要采用各种手段尽快定位问题所在,在本地复现相关现象,明确问题原因,进而提出针对性的解决方案。介绍一款数字信号处理器电路的失效分析过程。包括问题的出现,现场确认,失效现象复现,借助Latch-up、EMMI设备分析问题,提出改版方案。
王月玲黄旭东
关键词:数字信号处理器闩锁
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