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王健军

作品数:4 被引量:4H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术航空宇航科学技术电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 2篇CMOS器件
  • 1篇点数据
  • 1篇寿命数据
  • 1篇数据处理
  • 1篇总线
  • 1篇总线应用
  • 1篇基于FPGA
  • 1篇NIOS
  • 1篇USB
  • 1篇BC
  • 1篇FPGA
  • 1篇MIL-ST...
  • 1篇测试系统

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇刘士全
  • 4篇王健军
  • 2篇严华鑫
  • 1篇徐睿
  • 1篇朱习松
  • 1篇秦晨飞
  • 1篇徐超
  • 1篇黄正

传媒

  • 1篇电子质量
  • 1篇微型机与应用
  • 1篇电子与封装

年份

  • 3篇2016
  • 1篇2015
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法
本发明涉及一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法,以常温贮存数据为基础,选取三个不同的高温点进行加速贮存寿命试验,通过高温点数据和常温数据进行对比,得到高温贮存条件相对常温贮存条件的加速因子,根据加速因子得到高温贮...
刘士全王健军严华鑫徐睿
文献传递
基于FPGA和64843的1553B总线应用被引量:2
2016年
MIL-STD-1553B,一种应用广泛的军用数据总线。JBU64843,一款3.3V电压供电的小型化1553B协议芯片。该文详细介绍了1553B总线和64843的功能特点,并提出了基于FPGA和JBU64843的1553B总线控制器设计方案。设计方案的正确性,已在工程中得到验证。
朱习松王健军刘士全
关键词:MIL-STD-1553BFPGABC
一种新型CMOS器件长期贮存寿命评价试验方法被引量:1
2016年
介绍了一种新型的可对CMOS元器件长期贮存寿命做出评价的试验方法。对CMOS元器件样品分别进行常温贮存试验和高温贮存试验,通过常温贮存试验累积试验数据,并以此研究总结CMOS元器件长期贮存性能参数变化的规律,通过高温贮存试验加速元器件常温贮存过程,在实验过程中定期对样品器件进行测试。通过对常温贮存数据和高温加速贮存数据进行比对分析,并利用阿伦尼斯模型进行数据处理,从而在较短的时间内对元器件长期贮存寿命做出评价。
刘士全徐超秦晨飞王健军
关键词:CMOS器件数据处理
基于NIOS Ⅱ的1553B总线测试系统设计被引量:1
2015年
1553B总线以其可靠性高、实时性好、使用灵活等优点,广泛应用于现代飞机、导弹、卫星、舰艇、坦克等航空、航天、兵器领域,并且逐渐扩展到地铁交通控制等民用领域。而在实际使用过程中,1553B总线由于接口配置复杂,无法直接与PC进行通信,使得系统的安装调试存在困难。利用NIOS II软核处理器面向用户、灵活定制的特性和USB接口方便、支持热插拔的优点,给出了一种在FPGA上已经实现的1553B总线测试系统设计方法。整个系统硬件设计简单,软件设计稳定可靠,可应用于1553B系统调试和测试以及各种仿真实验中。
黄正王健军刘士全严华鑫
关键词:NIOSUSB测试系统
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