张碚
- 作品数：10 被引量：13H指数：2
- 供职机构：中国航天科工集团公司更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括：指定相同种类的多个待测元器件，对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；根据多个待测元器件的性能退化参数确定敏感参数，并对多个待测...
- 梅亮张虹张碚高成黄姣英
- 文献传递
- 一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括：指定相同种类的多个待测元器件，对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；根据多个待测元器件的性能退化参数确定敏感参数，并对多个待测...
- 梅亮张虹张碚高成黄姣英
- 文献传递
- 基于大容量FLASH存储器的FPGA重构系统的设计与实现被引量：8
- 2017年
- 随着FPGA在各种工业应用越来越广泛,FPGA重构技术在快速的FPGA自动测试中应用越来越广泛。传统的基于JTAG方式和基于配置芯片的FPGA重构方案由于存储配置时间长,配置芯片成本高等原因越来越满足不了快速的多重配置需求。提出了一种基于大容量FLASH存储器的FPGA重构技术,方案采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,可以实现绝大部分不同型号的FPGA器件的快速多重重构,从而满足FPGA芯片快速自动测试需求,提高了整体程序开发和测试效率,节约了芯片的测试成本。
- 杨士宁张虹李盛杰石雪梅张碚
- 关键词：FLASH存储器FPGA测试
- 一种FPGA重构装置和方法
- 本发明公开了一种FPGA重构装置和方法，FPGA重构装置包括上位机，主控单元FPGA，被测FPGA，SD卡，上位机、被测FPGA和SD卡分别与主控单元FPGA相连；上位机通过主控单元FPGA将被测FPGA需要的配置文件写...
- 杨士宁张虹李盛杰张碚
- 文献传递
- 一种模数转换器非线性参数测试适配器及测试方法
- 本发明公开了一种模数转换器非线性参数测试适配器，包括：通用测试母板和专用测试子板；本发明还公开了一种模数转换器非线性参数测试方法包括以下步骤：建立斜坡发生函数；向被测模数转换器输入斜坡模拟电压；捕获被测模数转换器的数字输...
- 刘路杨张虹张碚吕兵
- 文献传递
- 一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，包括对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；确定敏感参数，并对多个待测元器件的性能退化参数的样本序列进行平稳化处理；计算出每个待测元器...
- 张虹梅亮张碚高成黄姣英
- 文献传递
- 大功率DC/DC电源模块满功率壳温控制方法被引量：5
- 2015年
- 论文基于大功率电源模块的工作原理及特点,介绍了其老炼原理及标准,提出了老炼过程中存在的几个问题。通过热特性测试和仿真、发热区域红外热成像分析结合老炼试验方案设计等手段,解决了VICOR公司生产的V24A24M300BL大功率电源模块的满功率老炼问题,提出了大功率系列电源的壳温控制方法,说明了热阻参数二次测试的必要性,最后给出了大功率电源模块的老炼流程及方法。
- 梅亮张虹张碚常成
- 关键词：电源模块大功率老炼热仿真
- 一种基于性能退化量分布参数的电路寿命预测方法
- 本发明公开了一种基于性能退化量分布参数的电路寿命预测方法，包括对多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录多个待测元器件的性能退化参数；确定敏感参数，并对多个待测元器件的性能退化参数的样本序列进行平稳化处理；计算出每个待...
- 张虹梅亮张碚高成黄姣英
- 文献传递
- 一种FPGA重构装置和方法
- 本发明公开了一种FPGA重构装置和方法，FPGA重构装置包括上位机，主控单元FPGA，被测FPGA，SD卡，上位机、被测FPGA和SD卡分别与主控单元FPGA相连；上位机通过主控单元FPGA将被测FPGA需要的配置文件写...
- 杨士宁张虹李盛杰张碚
- 一种模数转换器非线性参数测试适配器及测试方法
- 本发明公开了一种模数转换器非线性参数测试适配器，包括：通用测试母板和专用测试子板；本发明还公开了一种模数转换器非线性参数测试方法包括以下步骤：建立斜坡发生函数；向被测模数转换器输入斜坡模拟电压；捕获被测模数转换器的数字输...
- 刘路杨张虹张碚吕兵
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