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杨士宁

作品数:11 被引量:28H指数:3
供职机构:中国航天科工集团公司更多>>
发文基金:北京市教育委员会共建项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 7篇期刊文章
  • 4篇专利

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 3篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 3篇存储器
  • 2篇电路
  • 2篇电启动
  • 2篇制程
  • 2篇上位机
  • 2篇主控
  • 2篇主控单元
  • 2篇控制程序
  • 2篇光纤
  • 2篇测试技术
  • 2篇存储器测试
  • 1篇电压
  • 1篇电压互感
  • 1篇电压互感器
  • 1篇端口
  • 1篇多端口
  • 1篇多核
  • 1篇虚拟仪器
  • 1篇虚拟仪器平台
  • 1篇仪器平台

机构

  • 7篇中国航天科工...
  • 3篇北京航空航天...
  • 1篇中国航天

作者

  • 11篇杨士宁
  • 3篇陆文超
  • 3篇张虹
  • 3篇李立京
  • 3篇张碚
  • 3篇石雪梅
  • 3篇罗晶
  • 2篇章敏
  • 2篇李盛杰
  • 2篇顾颖
  • 2篇李勤
  • 1篇张晞
  • 1篇李彦
  • 1篇许文渊
  • 1篇冯秀娟
  • 1篇李慧
  • 1篇杨德伟
  • 1篇李盛杰
  • 1篇顾颖
  • 1篇张晓羽

传媒

  • 4篇计算机与数字...
  • 2篇电子测量技术
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 1篇2019
  • 4篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 3篇2012
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于大容量FLASH存储器的FPGA重构系统的设计与实现被引量:8
2017年
随着FPGA在各种工业应用越来越广泛,FPGA重构技术在快速的FPGA自动测试中应用越来越广泛。传统的基于JTAG方式和基于配置芯片的FPGA重构方案由于存储配置时间长,配置芯片成本高等原因越来越满足不了快速的多重配置需求。提出了一种基于大容量FLASH存储器的FPGA重构技术,方案采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,可以实现绝大部分不同型号的FPGA器件的快速多重重构,从而满足FPGA芯片快速自动测试需求,提高了整体程序开发和测试效率,节约了芯片的测试成本。
杨士宁张虹李盛杰石雪梅张碚
关键词:FLASH存储器FPGA测试
基于虚拟仪器平台的新型分布式光纤传感系统被引量:7
2012年
提出一种可用于探测并定位微弱振动的基于LABVIEW平台的相位敏感光时域反射型(Φ-OTDR)分布式光纤传感系统。该系统中,窄线宽(3.6kHz)、低频率漂移(1MHz/min)的光纤激光器输出的连续光经电光调制器调制成脉冲光,经环行器后从传感光纤的一端输入,并在环形器的另一端通过光电探测器检测传感光纤中的后向瑞利散射光,探测器接收到的信号经过放大后采集到上位机中,使用LABVIEW进行数据处理。当在传感光缆表面或附近有压力或振动导致光纤中瑞利散射光相位发生变化时,由于干涉作用,光相位变化将引起光强度的变化,经过适当的数据处理后可得到压力或振动点的位置。这种传感系统可应用于周界安防、石油管道安全监测、大型结构监测等。
杨士宁李立京陆文超李勤章敏
关键词:分布式光纤传感相位敏感光时域反射计虚拟仪器
边界扫描测试技术在存储器测试中的应用被引量:2
2017年
边界扫描测试技术是一种基于集成电路可测性设计的测试技术,通过对集成电路内部测试寄存器输出响应的分析完成电路系统的测试及故障诊断。它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测试的接口,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,结合Xilinx公司可编程器件用配置存储器XCF系列芯片的进行基于边界扫描测试技术的测试方案设计。
杨士宁顾颖石雪梅罗晶
关键词:边界扫描测试存储器测试
存储器测试图形算法概述被引量:3
2017年
存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。
罗晶杨士宁石雪梅
关键词:存储器测试
一种FPGA重构装置和方法
本发明公开了一种FPGA重构装置和方法,FPGA重构装置包括上位机,主控单元FPGA,被测FPGA,SD卡,上位机、被测FPGA和SD卡分别与主控单元FPGA相连;上位机通过主控单元FPGA将被测FPGA需要的配置文件写...
杨士宁张虹李盛杰张碚
文献传递
FPGA时延故障检测技术研究
2015年
随着FPGA器件的应用越来越广泛,FPGA的测试和故障诊断技术得到了广泛重视和研究。FPGA的时延故障是FPGA内部故障中非常重要的一类故障类型,主要包含器件内部逻辑资源时延故障和连线资源时延故障。论文通过分析FPGA的内部结构和时延故障特性,研究FPGA内部逻辑资源时延和连线资源时延故障检测方法。利用Xilinx公司Virtex-Ⅱ系列FPGA完成时延故障检测方法验证,证明了FPGA时延故障检测的可实现性。
杨士宁顾颖石雪梅
关键词:FPGA时延故障测试技术
基于STILLink平台的测试向量转换研究被引量:2
2016年
STILLink平台是以STIL语言为核心的测试向量转换平台,支持多种格式的相互转换方案。STILLink平台的多种转换方案,大大缩短了从设计、流片到测试的全过程。STIL语言提供了一种数字测试生成工具与测试系统之间的接口,宗旨为寻求一种数字测试信息从测试生成工具到测试系统的转换方案。在论文中,将以电平转换器SY100ELT24为例,重点介绍WGL格式文件转换成STIL格式文件的方法,以及STIL格式文件向V93000测试程序的转换过程。
张晓羽顾颖杨士宁
一种FPGA重构装置和方法
本发明公开了一种FPGA重构装置和方法,FPGA重构装置包括上位机,主控单元FPGA,被测FPGA,SD卡,上位机、被测FPGA和SD卡分别与主控单元FPGA相连;上位机通过主控单元FPGA将被测FPGA需要的配置文件写...
杨士宁张虹李盛杰张碚
一种光纤分布式扰动传感器
本发明公开了一种光纤分布式扰动传感器,包括:光纤激光器,其输出端连接第一耦合器,第一耦合器的两个输出端分别连接声光调制器和第三耦合器;双向分布式拉曼放大单元,通过第一环形器与声光调制器相连,并通过第一环形器与第三耦合器相...
李立京杨士宁李勤李慧杨德伟许文渊张晞陆文超
文献传递
光学电压互感器晶体双折射误差的分析与抑制被引量:6
2012年
锗酸铋(BGO)晶体的双折射误差极大地制约着准互易反射式光学电压互感器(OVS)的精度。根据各光学元器件的参数,建立了各器件的琼斯矩阵以及光路系统的数学模型。在此模型基础上,仿真计算了晶体双折射误差对系统性能的影响;提出了晶体应力双折射对系统输出偏置的影响可以通过滤波算法进行抑制的方法,并设计了一个高通滤波器对数字输出进行抑制。实验结果表明,加入高通滤波器不改变光学电压互感器静态特性,抑制了晶体双折射引起的输出漂移,提高了互感器的测量精度。
李彦章敏李立京陆文超冯秀娟杨士宁
关键词:光学电压互感器琼斯矩阵高通滤波器
共2页<12>
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