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龚浩然

作品数：4 被引量：2H指数：1
供职机构：北京大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 4篇电路
  • 3篇电路设计
  • 3篇电路设计方法
  • 3篇集成电路
  • 3篇测试性
  • 3篇测试性设计
  • 2篇电路技术
  • 2篇隐蔽性
  • 2篇木马
  • 2篇可测试性
  • 2篇可测试性设计
  • 2篇集成电路技术
  • 1篇冗余
  • 1篇三维集成电路
  • 1篇自测试
  • 1篇自修复
  • 1篇内建自测试
  • 1篇互连
  • 1篇TSV

机构

  • 4篇北京大学

作者

  • 4篇龚浩然
  • 3篇冯建华
  • 1篇王秋实
  • 1篇谭晓慧

传媒

  • 1篇北京大学学报...

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2014
  • 1篇2013
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
基于激活概率分析的抗硬件木马电路设计方法
本发明涉及集成电路技术的可测试性设计领域。公开了一种基于激活概率分析的抗硬件木马电路设计方法，主要包括两个部分：第一部分是概率模糊单元的电路设计；第二部分是概率模糊单元的插入算法。针对硬件木马隐蔽性强和危害性大的特点，本...
冯建华龚浩然
文献传递
基于激活概率分析的抗硬件木马电路设计方法
随着集成电路产业的快速发展，其生产制造设备的换旧和维修费用也在显著增加。为了降低芯片的成本，越来越多的设计公司开始采用代工的方式生产电路。这种设计与制造分离的商业模式给电路产品带来了新的安全威胁。当设计好的电路被交付第三...
龚浩然
关键词：可测试性设计电路设计
基于激活概率分析的抗硬件木马电路设计方法
本发明涉及集成电路技术的可测试性设计领域。公开了一种基于激活概率分析的抗硬件木马电路设计方法，主要包括两个部分：第一部分是概率模糊单元的电路设计；第二部分是概率模糊单元的插入算法。针对硬件木马隐蔽性强和危害性大的特点，本...
冯建华龚浩然
文献传递
一种3D IC TSV互连的内建自测试和自修复方法(英文)被引量：2
2014年
提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷引起的成品率损失。电路模拟表明,面积代价和时间代价是可接受的。
王秋实谭晓慧龚浩然冯建华
关键词：三维集成电路内建自测试冗余
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