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张辰飞

作品数：18 被引量：0H指数：0
供职机构：大连理工大学更多>>
相关领域：电子电信理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 16篇专利
  • 2篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 10篇石英晶体
  • 10篇石英晶体微天...
  • 10篇晶体
  • 9篇聚变
  • 8篇光谱
  • 7篇激光
  • 7篇激光诱导
  • 5篇烧蚀
  • 5篇脉冲激光
  • 5篇脉冲激光沉积
  • 5篇耐烧蚀
  • 5篇化学计量
  • 5篇化学计量比
  • 5篇核聚变
  • 4篇等离子体
  • 4篇太赫兹
  • 4篇太赫兹波
  • 3篇镀膜
  • 3篇镀膜技术
  • 3篇离子枪

机构

  • 18篇大连理工大学

作者

  • 18篇张辰飞
  • 16篇丁洪斌
  • 12篇李聪
  • 12篇吴兴伟
  • 4篇信裕
  • 4篇海然
  • 2篇王宏北

年份

  • 5篇2015
  • 12篇2013
  • 1篇2011
共 18 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种测量材料耐烧蚀特性的方法
本发明涉及核聚变领域，公开了一种测量材料耐烧蚀特性的方法，本方法将激光诱导击穿光谱LIBS和石英晶体微天平QCM相结合，LIBS诊断烧蚀出物种的种类以及各物种百分比，QCM推算出总烧蚀量，再将二者的测量结果相结合，得出各...
丁洪斌李聪吴兴伟张辰飞
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一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置
本发明涉及脉冲激光沉积镀膜领域，公开了一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置，包括：脉冲沉积(PLD)镀膜系统，激光诱导击穿光谱（LIBS）测量系统，石英晶体微天平（QCM）测量系统。本发明基于脉冲激光沉积镀...
丁洪斌吴兴伟李聪张辰飞
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一种分析聚变装置第一镜杂质沉积层厚度及其结构的方法
本发明公开了一种分析聚变装置第一镜杂质沉积层厚度及其结构的方法，本发明是一种无损检测第一镜表面杂质沉积层厚度及结构的方法，可以直观的显示杂质沉积层的成分信息，且样品无需预处理，实用性强。太赫兹波在等离子体及真空环境下传播...
海然张辰飞信裕丁洪斌
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空气等离子体中NO<sub>2</sub>的光腔衰荡光谱研究
低温等离子体产生的高能电子、自由基和活性物质,可以实现在正常手段难以进行的物理过程和化学反应,是一种有效的氮氧化物脱除手段。同时,随着等离子体技术在大规模工业化生产中的广泛应用,气体放电过程的副产品对环境的影响也逐渐受到...
张辰飞
关键词：二氧化氮光腔衰荡光谱介质阻挡放电
一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置
本实用新型涉及脉冲激光沉积镀膜领域，公开了一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置，包括：脉冲沉积(PLD)镀膜系统，激光诱导击穿光谱（LIBS）测量系统，石英晶体微天平（QCM）测量系统。本实用新型基于脉冲激...
丁洪斌吴兴伟李聪张辰飞
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一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置
本发明涉及脉冲激光沉积镀膜领域，公开了一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的装置，包括：脉冲沉积(PLD)镀膜系统，激光诱导击穿光谱（LIBS）测量系统，石英晶体微天平（QCM）测量系统。本发明基于脉冲激光沉积镀...
丁洪斌吴兴伟李聪张辰飞
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基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置
本实用新型公开了一种基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置，包括：计算机控制系统、波长可调太赫兹波发射模块、太赫兹波接收模块、三维扫描系统、磁约束聚变装置、若干抛面镜。本实用新型利用太赫兹波及光学过程层析成像技术，可...
海然张辰飞信裕丁洪斌
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一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法
本发明涉及光学诊断领域，公开了一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法，首先测量并记录原始第一镜的太赫兹时域波谱，然后测量磁约束聚变装置运行一段时间后载有杂质灰尘的第一镜表面反射太赫兹时域波谱；将两者在有效频域内分别进行...
海然张辰飞信裕丁洪斌
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一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的方法
本发明涉及脉冲激光沉积镀膜领域，公开了一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的方法。首先，在脉冲沉积镀膜过程中，用激光诱导击穿光谱（LIBS）测量沉积的薄膜中各个成分化学计量比；然后，用石英晶体微天平（QCM）测量...
丁洪斌吴兴伟李聪张辰飞
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空气等离子体中NO2的光腔衰荡光谱研究
低温等离子体产生的高能电子、自由基和活性物质，可以实现在正常手段难以进行的物理过程和化学反应，是一种有效的氮氧化物脱除手段。同时，随着等离子体技术在大规模工业化生产中的广泛应用，气体放电过程的副产品对环境的影响也逐渐受到...
张辰飞
关键词：二氧化氮光腔衰荡光谱等离子体介质阻挡放电
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