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信裕

作品数：14 被引量：0H指数：0
供职机构：大连理工大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术医药卫生理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 13篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇医药卫生
  • 1篇理学

主题

  • 13篇聚变
  • 11篇光学
  • 11篇光学诊断
  • 9篇核聚变
  • 7篇数据库
  • 6篇聚变装置
  • 6篇计算机
  • 6篇计算机数据
  • 6篇计算机数据库
  • 6篇波谱
  • 5篇太赫兹
  • 5篇偏滤器
  • 4篇太赫兹波
  • 4篇托卡马克
  • 3篇磁约束
  • 3篇磁约束聚变
  • 3篇磁约束聚变装...
  • 2篇在线检测
  • 2篇频移
  • 2篇测温

机构

  • 14篇大连理工大学

作者

  • 14篇信裕
  • 13篇丁洪斌
  • 13篇海然
  • 9篇哈桑
  • 4篇张辰飞

年份

  • 1篇2015
  • 4篇2014
  • 9篇2013
共 14 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置
本实用新型涉及核聚变与光学诊断领域，公开了一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬时温度的装置，具体包括：太赫兹波发射装置、太赫兹波探测装置、激光测距探头、太赫兹时域-频域转换模块、数据库模块、结果输出模块；所述激光测距探头...
信裕海然哈桑丁洪斌
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在线检测托卡马克钨第一壁灰尘成分及厚度的太赫兹方法
本发明涉及核聚变与光学诊断领域，公开了一种在线检测托卡马克钨第一壁灰尘成分及厚度的太赫兹方法。首先从窗口外向检测区域垂直射入太赫兹波，探头测量并记录由钨第一壁反射回的太赫兹时域波谱；将其在有效频域内做傅里叶变换得到频域谱...
信裕海然丁洪斌哈桑
一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法
本发明涉及光学诊断领域，公开了一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法，首先测量并记录原始第一镜的太赫兹时域波谱，然后测量磁约束聚变装置运行一段时间后载有杂质灰尘的第一镜表面反射太赫兹时域波谱；将两者在有效频域内分别进行...
海然张辰飞信裕丁洪斌
文献传递
一种检测托卡马克钨第一壁灰尘沉积层成分及厚度的装置
本发明涉及核聚变与光学诊断领域，特别涉及一种检测托卡马克钨第一壁灰尘沉积层成分及厚度的装置，包括：太赫兹波发射装置、太赫兹波探测装置、激光测距探头、测温探头、太赫兹时域-频域转换模块、数据库模块、结果输出模块；所述激光测...
信裕海然丁洪斌哈桑
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一种分析聚变装置第一镜杂质沉积层厚度及其结构的方法
本发明公开了一种分析聚变装置第一镜杂质沉积层厚度及其结构的方法，本发明是一种无损检测第一镜表面杂质沉积层厚度及结构的方法，可以直观的显示杂质沉积层的成分信息，且样品无需预处理，实用性强。太赫兹波在等离子体及真空环境下传播...
海然张辰飞信裕丁洪斌
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基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置
本实用新型公开了一种基于反射式太赫兹光谱第一镜表面杂质分析装置，包括：计算机控制系统、波长可调太赫兹波发射模块、太赫兹波接收模块、三维扫描系统、磁约束聚变装置、若干抛面镜。本实用新型利用太赫兹波及光学过程层析成像技术，可...
海然张辰飞信裕丁洪斌
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一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法
本发明涉及光学诊断领域，公开了一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法，首先测量并记录原始第一镜的太赫兹时域波谱，然后测量磁约束聚变装置运行一段时间后载有杂质灰尘的第一镜表面反射太赫兹时域波谱；将两者在有效频域内分别进行...
海然张辰飞信裕丁洪斌
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一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法
本发明涉及核聚变与光学诊断领域，公开了一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法，技术方案为：在磁约束聚变装置正常工作时，从窗口外向石墨瓦垂直射入太赫兹波，探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱<I...
信裕海然哈桑丁洪斌
反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置
本发明涉及核聚变与光学诊断领域，公开了一种反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置，太赫兹波发射装置透过窗口向石墨瓦垂直射入太赫兹波，激光测距模块测量探头到石墨瓦之间距离，同时探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回...
信裕海然哈桑丁洪斌
检测托卡马克钨第一壁灰尘沉积层成分及厚度的装置
本实用新型涉及核聚变与光学诊断领域，特别涉及一种检测托卡马克钨第一壁灰尘沉积层成分及厚度的装置，包括：太赫兹波发射装置、太赫兹波探测装置、激光测距探头、测温探头、太赫兹时域-频域转换模块、数据库模块、结果输出模块；所述激...
信裕海然丁洪斌哈桑
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