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高晶晶
作品数:
3
被引量:7
H指数:1
供职机构:
合肥工业大学
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发文基金:
国家自然科学基金
国家教育部博士点基金
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相关领域:
自动化与计算机技术
语言文字
电子电信
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合作作者
王伟
合肥工业大学计算机与信息学院
陈田
合肥工业大学计算机与信息学院
兰方勇
合肥工业大学计算机与信息学院
李杨
合肥工业大学计算机与信息学院
方芳
合肥工业大学管理学院
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高晶晶
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一种针对3D芯片的BIST设计方法
被引量:7
2012年
提出了一种基于分层结构的内建自测试(BIST)设计方法—3DC-BIST(3D Circuit-BIST)。根据3D芯片的绑定前测试和绑定后测试阶段,针对3D芯片除底层外的各层电路结构,采用传统方法,设计用于绑定前测试的相应BIST结构;针对3D芯片底层电路结构与整体结构,通过向量调整技术,设计既能用于底层电路绑定前测试又能用于整体3D芯片绑定后测试的BIST结构。给出了一种针对3D芯片的BIST设计方法,与传统方法相比减少了面积开销。实验结果表明该结构在实现与传统3D BIST方法同样故障覆盖率的条件下,3D平面面积开销相比传统设计方法减少了6.41%。
王伟
高晶晶
方芳
陈田
兰方勇
李杨
关键词:
3D芯片
内建自测试
顺应论在交替传译中的应用
交替传译是一种十分复杂且特殊的动态交际过程。译员作为跨文化交际的桥梁,要根据交际场合的不同对语境、交际者、双语文化差异等因素有较强的认识能力,对于依据何种标准来选择合适的译本,学者们都进行过不同层次的讨论。本论文运用顺应...
高晶晶
关键词:
交替传译
语言结构
语用学
文献传递
一种针对3D芯片的BIST设计方法
随着半导体产业的发展,集成芯片的性能空前强大,与此同时,高速度、高集成度的芯片设计也给测试带来了严峻的挑战。由于芯片集成度的日益提高,采用外部测试设备测试芯片越来越困难,测试代价越来越高,进而推动了BIST的应用,并且B...
高晶晶
关键词:
集成电路
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