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王泽斌

作品数:4 被引量:10H指数:2
供职机构:华南师范大学物理与电信工程学院更多>>
发文基金:广东省科技计划工业攻关项目国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:理学机械工程建筑科学更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学
  • 2篇机械工程

主题

  • 2篇折射率
  • 2篇偏振
  • 2篇偏振光
  • 1篇线偏振
  • 1篇激光
  • 1篇激光光束
  • 1篇光斑
  • 1篇光斑半径
  • 1篇光反射
  • 1篇光阑
  • 1篇光束
  • 1篇厚度
  • 1篇高斯光束

机构

  • 3篇华南师范大学

作者

  • 3篇黄佐华
  • 3篇王泽斌
  • 2篇周进朝
  • 1篇宋亚杰
  • 1篇曾宪佑

传媒

  • 1篇物理实验
  • 1篇激光与光电子...
  • 1篇中国激光

年份

  • 3篇2012
4 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
套孔法测量激光光束光斑半径方法探讨被引量:3
2012年
对套孔法中的光阑法与光点法测量激光光斑半径实验中光阑半径的选取进行了分析,实验表明:光阑法所用的光阑半径等于待测光斑半径时,实验结果误差最小;同样用光点法测量高斯光束的光斑半径存在最小针孔直径.
王泽斌黄佐华
关键词:激光高斯光束光斑半径
基于偏振光反射多点法测量薄膜参数被引量:2
2012年
依据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法,实现了对薄膜材料折射率和厚度的精确测量。将高准直半导体激光入射到薄膜样品与空气分界面上,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品的反射率随入射角变化曲线。在曲线上取不同入射角处所对应的反射率,根据计算公式求解出多组薄膜厚度和折射率。利用已测量的多组反射率与求解出的薄膜参数相应反射率拟合后可确定出薄膜参数最优解。在求出的薄膜参数附近拓展一定范围再次拟合,可求出更精确的薄膜参数。基于此方法测量了SiO2薄膜的折射率和厚度,测量折射率误差不超过0.3%,厚度误差不超过0.07%。
周进朝宋亚杰曾宪佑王泽斌黄佐华
关键词:折射率厚度偏振光
线偏振光反射法测量介质材料折射率的方法被引量:5
2012年
依据线偏振光反射原理,实现了对介质折射率的测量。使用高准直半导体激光器激光入射到待测样品表面,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品反射光强随入射角变化的关系曲线;当用p线偏振光入射时,曲线上有一光强随入射角的变化趋近于零的点,其对应入射角为布儒斯特角,由线偏振光反射原理可求得样品折射率。用此方法测量了玻璃和棱镜的折射率,测量的结果偏差控制在1×10-3量级,测量的重复性比较好。
王泽斌周进朝黄佐华
关键词:折射率偏振光
共1页<1>
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