梁晓思
- 作品数：7 被引量：6H指数：1
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：广东省科技计划工业攻关项目广州市科技计划项目更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术更多>>
- 半导体器件静电损伤失效案例研究
- 静电放电损伤是导致半导体器件失效的重要原因,因此静电放电损伤失效分析对于判断半导体器件失效的原因,制定改善措施具有重要的作用.通过半导体器件静电放电失效分析典型案例进行收集和研究,总结静电放电失效分析定位的主要技术和静电...
- 何胜宗陈选龙梁晓思
- 关键词：半导体器件
- 静电放电失效特征及诊断技术研究
- 静电放电损伤失效分析是电子制造企业分析产品质量问题和提高产品质量可靠性的难点和关键技术之一.总结梳理生产制造过程中常见的静电源和释放通路,研究电子元器件静电放电损伤的敏感结构,研究静电放电损伤的失效机理及其典型形貌特征,...
- 何胜宗梁晓思陈选龙王有亮
- 关键词：电子元器件生产过程静电放电
- 电子元器件和电子设备的静电放电试验比较
- 本文主要针对电子元器件和电子设备静电放电试验方法进行了对比分析,包括试验针对的产品对象、依据的试验标准、需要的试验设各以及具体的试验方法和合格判据等。
- 来萍邝贤军梁晓思
- 文献传递
- 电子元器件和电子设备的ESD试验方法比较被引量：1
- 2009年
- 主要针对电子元器件和电子设备静电放电试验方法进行了对比分析,包括试验针对的产品对象、依据的试验标准、需要的试验设备以及具体的试验方法和合格判据等。
- 来萍邝贤军梁晓思
- 关键词：静电放电
- 电子元器件和电子设备的静电放电试验比较
- 本文主要针对电子元器件和电子设备静电放电试验方法进行了对比分析,包括试验针对的产品对象、依据的试验标准、需要的试验设备以及具体的试验方法和合格判据等.
- 来萍邝贤军梁晓思
- 关键词：电子元器件电子设备
- 文献传递
- 元器件ESD失效分析中的关键技术及其应用
- 要准确分析判断器件是否由于ESD造成的损伤或失效,在实际工程案例中通常存在几个难点:被发现的滞后性,电特性上与EOS难以区分,芯片内部的失效点难以定位,失效点的物理形貌难以判断,难以查找是哪个环节产生的静电放电损伤了器件...
- 王有亮梁晓思来萍
- 关键词：电子元器件静电放电
- 基于失效特征的静电损伤分析研究被引量：5
- 2018年
- 静电放电损伤失效分析是电子制造企业分析产品质量问题和提高产品质量可靠性的难点和关键技术之一。总结梳理生产制造过程中常见的静电源和释放通路,研究元器件静电放电损伤的敏感结构,研究静电放电损伤的失效机理及其典型形貌特征,探讨静电损伤(ESD)、过电损伤(EOS)和缺陷诱发失效的鉴别方法。最后将这些方法应用在具体的失效案例中,为企业开展静电放电失效分析工作提供一种有效的鉴别分析方法。
- 何胜宗季启政胡凛王有亮梁晓思
- 关键词：静电放电电子元器件
