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文献类型

  • 6篇中文专利

领域

  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 6篇移位寄存器
  • 6篇用户
  • 6篇用户操作
  • 6篇桥接
  • 6篇寄存器
  • 6篇故障定位
  • 6篇FPGA
  • 2篇蛇形
  • 2篇互连
  • 2篇架构

机构

  • 6篇中国电子科技...

作者

  • 6篇陈诚
  • 6篇季正凯
  • 6篇徐彦峰
  • 6篇李晓磊
  • 6篇于大鑫
  • 2篇周亚丽
  • 2篇陆峰

年份

  • 3篇2013
  • 1篇2012
  • 2篇2011
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
一种FPGA单长线斜向开关的测试方法
本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线斜向开关的测试方法,仅用四次配置就完成。本发明的优点是:以移位寄存器链模式测试FPGA电路的单长线斜向开关,可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障;仅用...
于大鑫周亚丽徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
文献传递
一种FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法
本发明公开了一种配置次数尽可能少的基于Virtex架构的FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法,该方法以移位寄存器链模式测试FPGA电路的六长线,可以测试6根为一组的同方向的六长线的任意2根信号之间的桥接故障;总计采用...
于大鑫徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
文献传递
一种FPGA单长线及其直连开关的测试方法
本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线及其直连开关的测试方法,仅用四次配置就完成。本发明的优点是:以移位寄存器链模式测试FPGA电路的24根单长线,可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障;仅...
陆峰徐彦峰于大鑫陈诚季正凯李晓磊
一种FPGA单长线斜向开关的测试方法
本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线斜向开关的测试方法,仅用四次配置就完成。本发明的优点是:以移位寄存器链模式测试FPGA电路的单长线斜向开关,可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障;仅用...
于大鑫周亚丽徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
一种FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法
本发明公开了一种配置次数尽可能少的基于Virtex架构的FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法,该方法以移位寄存器链模式测试FPGA电路的六长线,可以测试6根为一组的同方向的六长线的任意2根信号之间的桥接故障;总计采用...
于大鑫徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
一种FPGA单长线及其直连开关的测试方法
本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线及其直连开关的测试方法,仅用四次配置就完成。本发明的优点是:以移位寄存器链模式测试FPGA电路的24根单长线,可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障;仅...
陆峰徐彦峰于大鑫陈诚季正凯李晓磊
文献传递
共1页<1>
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