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曹颖

作品数:3 被引量:8H指数:2
供职机构:中国科学技术大学化学与材料科学学院材料科学与工程系更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇溶胶
  • 2篇溶胶凝胶
  • 2篇胶凝
  • 2篇SI(111...
  • 2篇SIC
  • 1篇淀积
  • 1篇碳化硅
  • 1篇退火
  • 1篇凝胶法
  • 1篇热解法
  • 1篇准分子
  • 1篇准分子激光
  • 1篇晶化
  • 1篇晶化温度
  • 1篇晶体
  • 1篇晶体结构
  • 1篇激光
  • 1篇激光淀积
  • 1篇光致
  • 1篇光致发光

机构

  • 3篇中国科学技术...
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 3篇曹颖
  • 3篇汤洪高
  • 3篇何海平
  • 3篇王玉霞
  • 2篇郭震
  • 1篇黄继颇
  • 1篇林成鲁
  • 1篇王连卫

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇物理学报
  • 1篇人工晶体学报

年份

  • 2篇2001
  • 1篇2000
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
在Si(111)上用有机溶胶凝胶甩膜退火法制备(0001)定向的6H-SiC薄膜
2000年
本文报道在Si(111)衬底上用聚苯乙烯溶胶甩膜并经 950℃真空 (10 - 3Pa)退火处理的方法 ,制备出了晶态SiC薄膜。我们用FTIR ,XRD ,TEM ,Raman ,XPS等方法研究SiC薄膜的晶体结构 ,微结构 ,组成以及各元素的化学态等性质。结果表明制得的是沿 (0 0 0 1)面高度择优取向的晶态 6H SiC薄膜 ,SiC(0 0 0 1) / /Si(111)外延生长。膜中SiC的Si/C比约为 1,表层有少许污染C(CH和CO)和少量Si2 O3,CO态氧和吸附氧。膜中SiC晶粒沿c轴柱状生长 ,其最大尺寸约 150nm。膜厚约为 0 .3μm。从对比实验可知 ,在退火时将甩膜的Si片与另一空白Si片面面相贴可明显增加SiC的生成量。
王玉霞郭震何海平曹颖汤洪高
关键词:凝胶法晶体结构
脉冲ArF准分子激光淀积SiC/Si(100)薄膜的最佳晶化温度及光致发光被引量:4
2001年
用脉冲 Ar F准分子激光熔蚀 Si C陶瓷靶 ,在 80 0℃ Si(10 0 )衬底上淀积 Si C薄膜 ,经不同温度真空 (10 - 3Pa)退火后 ,用 FTIR、XRD、TEM、XPS、PL 谱等分析方法 ,研究了薄膜最佳晶化温度及表面形态、结构、组成 ,并对在最佳退火温度处理后的样品进行了化学态、微结构及光致发光的研究 .结果表明 ,在 Si(10 0 )上 80 0℃淀积的样品为非晶Si C薄膜 .经 85 0— 10 5 0℃不同温度真空退火后 ,Si C薄膜经非晶核化 -长大过程 ,在 980℃完成最佳晶化 .随退火温度的变化 ,薄膜中可能存在 3C- Si C与 6 H- Si C的竞争生长或 /和 3C- Si C相的长、消 (最佳温度退火样品中 6 H- Si C和 3C- Si C两种晶相共存 ) .以 370 nm波长光激发样品薄膜表面 ,显示较强的 44 7nm蓝光发射 。
王玉霞曹颖何海平汤洪高王连卫黄继颇林成鲁
关键词:晶化温度准分子激光光致发光
在Si(111)上用有机溶胶凝胶甩膜热解法制备(0001)定向的6H-SiC薄膜被引量:5
2001年
在Si(111)衬底上用聚苯乙烯溶胶 凝胶甩膜并经 95 0℃真空 (10 -3 Pa)热解处理法 ,制备出晶态SiC薄膜 .用FTIR ,XRD ,TEM ,RamanXPS等方法研究了SiC薄膜的晶体结构、微结构、组成以及各元素的化学态等性质 .结果表明制得的是沿 (0 0 0 1)高度择优取向的晶态 6H SiC薄膜 .膜中SiC晶粒沿c轴柱状生长 ,其最大尺寸约 15 0nm ,膜厚约为 0 3μm ,SiC中的Si/C比约为 1.表层有少许污染C(CH和CO)和少量O(Si2 O3,CO态氧和吸附氧 ) .从对比实验可知 ,在热解时将甩膜的Si片与另一空白Si片面面相贴可明显增加SiC的生成量 .
王玉霞郭震何海平曹颖汤洪高
关键词:碳化硅热解法
共1页<1>
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