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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 3篇封装
  • 1篇电路
  • 1篇电路芯片
  • 1篇陶瓷封装
  • 1篇气密封装
  • 1篇氢气
  • 1篇氢气含量
  • 1篇芯片
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路芯片
  • 1篇焊盘
  • 1篇焊盘设计
  • 1篇封装工艺

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 1篇无锡中微高科...

作者

  • 3篇王洋
  • 2篇郭伟
  • 1篇陆永超
  • 1篇黄强
  • 1篇华丞
  • 1篇丁荣峥
  • 1篇郭大琪

传媒

  • 2篇电子与封装
  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2007
  • 1篇2003
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
封装腔体内氢气含量控制被引量:14
2012年
目前,对密封腔体内的水汽、二氧化碳、氧气含量的研究比较多,内部水汽含量控制在≤5 000 ppm、氧气控制在≤2 000 ppm、二氧化碳控制在≤4 000 ppm、氦气控制在≤1 000 ppm的密封工艺技术已解决[9],氢气含量控制的研究则未见报道。对于一些气密性要求高的封装应用领域,还需要控制氢气含量,如MEMS、GaAs电路等。分析了平行缝焊、Au80Sn20合金封帽的导电胶、合金烧结的器件的内部氢气含量,并分析了125℃168 h和125℃1 000 h贮存前后氢气含量的变化情况;在试验的基础上,提出了氢气的主要来源和针对性的工艺措施,并取得了期望的结果:密封器件经过125℃、1 000 h贮存后的氢气含量也能控制在≤4 000 ppm。
丁荣峥李秀林明雪飞郭伟王洋
关键词:气密封装氢气含量
陶瓷封装集成电路芯片焊盘设计被引量:1
2007年
在设计陶瓷封装集成电路芯片的焊盘时,需要考虑到引线键合工艺对芯片焊盘设计的一些要求,诸如焊盘尺寸、焊盘布置、焊盘间距、焊盘引出金属条、焊盘到周围布线或元件间的距离等。文中对这些设计给出了一些参考数据。
王洋华丞郭大琪
聚酰亚胺型导电胶装片固化工艺的研究被引量:3
2003年
本文讨论了聚酰亚胺型导电胶在装片固化时可能产生孔洞的类型及机理,在些基础上确定了随芯片尺寸的增大需对固化工艺进行相应调整的基本原则,并提出了不同尺寸芯片的固化工艺曲线。
黄强陆永超王洋郭伟
关键词:封装工艺
共1页<1>
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