2024年11月15日
星期五
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气派科技股份有限公司
作品数:
136
被引量:1
H指数:1
相关机构:
电子科技大学
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川蓝彩电子科技有限公司
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相关领域:
自动化与计算机技术
金属学及工艺
化学工程
一般工业技术
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电子科技大学
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川蓝彩电子科技有限公司
四川芯合利诚科技有限公司
四川晶辉半导体有限公司
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自动化与计算...
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金属学及工艺
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化学工程
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1篇
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1篇
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一般工业技术
1篇
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47篇
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引线框架
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四川矽芯微科...
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成都智芯微科...
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内蒙古科技大...
1篇
包头钢铁(集...
1篇
广东气派科技...
作者
1篇
李子剑
1篇
谢淼舟
1篇
曾德贵
1篇
赵建明
传媒
1篇
信息系统工程
1篇
电子与封装
年份
9篇
2024
4篇
2023
11篇
2022
10篇
2021
37篇
2020
9篇
2019
3篇
2018
4篇
2017
11篇
2016
10篇
2015
22篇
2014
6篇
2013
共
136
条 记 录,以下是 1-10
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一种半导体饱和蒸汽试验用治具
本实用新型涉及一种半导体饱和蒸汽试验用治具,包括上模板、下模板、上密封条和下密封条,上模板上设有上容置槽,上密封条设置在上容置槽内,下模板上设有下容置槽,下密封条设置在下容置槽内,上密封条和下密封条用于密封半导体的引脚,...
李德朋
刘方标
饶锡林
易炳川
黄乙为
施保球
一种高密度LQFP32集成电路封装引线框结构
本实用新型一种高密度LQFP32集成电路封装引线框结构,技术目的是提供一种新的封装效率更高并且提升产品良品率的高密度LQFP32集成电路封装引线框结构。包括基板和若干引线框单元,所述引线框单元五个为一排,分成十四排设置在...
陈永金
梁大钟
饶锡林
施保球
刘兴波
文献传递
一种高密度集成电路芯片扇出封装的制作方法
本发明公开了一种高密度集成电路芯片扇出封装的制作方法,包括依次进行的以下步骤:一、制作正面保护层;二、蓝膜切割和裂片;三、制作背面及侧面保护层;四、形成扇出结构。本发明为高密度集成电路芯片的正面、侧面及背面添加环氧树脂钝...
曾德贵
谢嘉林
徐开凯
赵建明
张霞
施宝球
许栋梁
廖楠
李建全
徐银森
李健儿
黄平
刘继芝
曾尚文
陈勇
文献传递
集成电路的双基岛7引脚引线框结构
本实用新型的集成电路的双基岛7引脚引线框结构,技术目的是提供一种提高间隙放电电压值以达到防空气击穿的集成电路的双基岛7引脚引线框结构及切筋模具。包括基板上设有基岛及引线框单元,所述基岛上设有芯片,所述芯片设有7个引线管脚...
刘兴波
黄立刚
黄乙为
陈永金
周维
文献传递
一种有杆气缸推料装置
本实用新型涉及一种有杆气缸推料装置,包括U形防护罩和推料板,U形防护罩包括顶板以及自顶板两端向下弯折形成的第一侧板和第二侧板,第一侧板和第二侧板之间设有控制推料板相对防护罩活动的有杆气缸,有杆气缸的活塞杆与推料板连接,有...
姜有才
莫志胜
胡特钢
黄东
斯毅平
李庆丹
饶锡林
文献传递
电子封装用银合金线性能的研究
被引量:1
2020年
研究了不同钯(Pd)含量银合金线的电阻率、铝挤出、可靠性及横截面的情况,并分析了Pd抑制银离子迁移的原理。结果表明,银合金线中加入Pd后,Pd的含量越高,线材的FAB硬度越大,铝挤出越多,Pd有助于提高合金线的可靠性,同时Pd的质量分数到3%以上时其可靠性更好。Pd能够抑制银离子迁移的原因是表面形成了一个PdO层,PdO富集在表面阻碍银离子扩散及迁移。银合金线的Ag-Al焊球界面主要形成Ag2Al及Ag3Al,Ag2Al比Ag3Al具有更高的抗腐蚀能力。
施保球
黄乙为
关键词:
钯
可靠性
集成电路封装体(CDFN14-7A9)
1.本外观设计产品的名称:集成电路封装体(CDFN14‑7A9)。;2.本外观设计产品的用途:用于集成电路、分立器件、MOS 管、锂电池芯片、电源芯片、传感器、MCU等的封装。;3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。;...
杨建伟
一种新型芯片腐球检验用设备
本实用新型涉及一种新型芯片腐球检验用设备,包括预热工位、多个加热工位、定时控制器和温度控制器,所述预热工位和加热工位均设有独立控制的加热装置和温度传感器,所述定时控制器用于控制各加热工位的加热时间,所述温度控制器用于控制...
赵月艳
刘方标
饶锡林
易炳川
黄乙为
施保球
一种改善蚀刻应力的引线框架
本实用新型涉及一种改善蚀刻应力的引线框架,包括引脚和基岛,所述引脚和基岛背面部分区域为半蚀刻,所述基岛背面半蚀刻后形成长条形的散热片,所述基岛的边缘设有用于减少与蚀刻液接触面积的通孔。首先,通孔的位置设置不会影响在基岛上...
张怡
易炳川
黄乙为
饶锡林
冯学贵
文献传递
集成电路封装体(QFL-E1)
1.本外观设计产品的名称:集成电路封装体(QFL‑E1)。;2.本外观设计产品的用途:用于集成电路、分立器件、MOS 管、锂电池芯片、电源芯片、传感器、MCU等的封装。;3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。;4.最能...
施保球
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