陈辉
- 作品数：1 被引量：9H指数：1
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- 一种ATE测试向量时序优化算法被引量：9
- 2011年
- 介绍了自动测试设备(ATE)测试信号合成的基本原理,讲述了ATE测试时序的结构和特点,分析了VCD(Value Change Dump)文件的语法结构和特点,提出了一种ATE测试时序优化算法,包括VCD时间沿的修剪和分辨率降低原则。经过时序优化算法处理的VCD文件,在进行测试向量转换时,生成的测试时序中,定时沿的数量得到有效控制,测试波形数量明显减少,避免了ATE定时沿数量和波形存储深度的物理限制,保证了测试向量转换后编译的成功率。同时,定时沿和测试波形数量的减少,不仅提高了测试向量转换效率,还缩短了测试程序调试(Debug)时间,达到了提高集成电路测试程序开发效率的目的。
- 陈辉姚若河王晓晗恩云飞魏建中
- 关键词：自动测试设备集成电路测试VCD文件测试向量
