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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇失效模式
  • 1篇金属
  • 1篇金属类
  • 1篇惯性开关
  • 1篇MEMS
  • 1篇MEMS器件

机构

  • 1篇中国人民解放...
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  • 1篇中国人民解放...
  • 1篇中国人民武装...

作者

  • 1篇齐杏林
  • 1篇刘加凯
  • 1篇冯建伟
  • 1篇肖东
  • 1篇徐龙

传媒

  • 1篇军械工程学院...

年份

  • 1篇2013
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
金属类MEMS器件可靠性试验技术研究
2013年
针对金属类MEMS机构可靠性水平较低且没有标准化的可靠性试验方法的现状,提出将强化试验方法引入金属类MEMS机构的可靠性研究中.确定强化试验的内容为温度循环、随机振动和冲击试验,并分别设计试验剖面.选取MEMS惯性开关作为典型器件开展试验研究,试验结果表明,所设计的可靠性试验能够有效激发MEMS机构的潜在缺陷,温度应力易引起MEMS器件层间产生疲劳效应,而振动和冲击应力则易引发器件结构性损坏;环境应力对MEMS机构具有疲劳累积效应,经历较多试验类型的样本较经历较少试验类型的样本更容易失效;惯性开关的主要失效模式是分层和变形,这2种失效模式在金属类MEMS机构中具有代表性.
刘加凯齐杏林冯建伟徐龙肖东
关键词:惯性开关失效模式
共1页<1>
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