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郑翔

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：沈阳工业大学信息科学与工程学院更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电压
  • 1篇动态过电压
  • 1篇雪崩
  • 1篇雪崩击穿
  • 1篇过电压
  • 1篇IGBT

机构

  • 1篇沈阳工业大学

作者

  • 1篇关艳霞
  • 1篇潘福泉
  • 1篇郑翔

传媒

  • 1篇电源技术应用

年份

  • 1篇2014
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
IGBT动态过电压失效的研究
2014年
绝缘栅型双极晶体管（IGBT）过电压击穿是一种常见的失效形式。由于电路中存在杂散电感，关断时会产生瞬间的高电压而引起动态雪崩击穿。通常误认为发生雪崩击穿是造成IGBT过压失效的根本原因。针对此问题，基于IGBT基本结构和PN结雪崩击穿原理，利用SilvacO软件仿真IGBT正向阻断以及关断瞬态时的电流密度分布，并从能量的角度深入分析得出过电压击穿的本质是结温过高引起的热失效，并从理论上给出了几种改进措施，为IGBT的正确使用与工艺改进提供理论参考。
郑翔关艳霞潘福泉
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