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李爱平

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇上元
  • 1篇冷备份
  • 1篇工控
  • 1篇工控机
  • 1篇备份
  • 1篇NI
  • 1篇SRAM
  • 1篇FIFO
  • 1篇存储器
  • 1篇存储器测试

机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇李爱平
  • 1篇李博
  • 1篇潘滨
  • 1篇刘永灿

传媒

  • 1篇中国集成电路
  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2022
  • 1篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种差分总线上元器件冷备份功能的测试验证
2022年
针对多种冷备份应用场景,制定冷备份试验电路架构和试验方案,采用不同冷备份特性的差分驱动器和接收器,进行测试对比分析。评价冷备份应用过程中,研究了具备冷备份功能的电路电源端低电压的保持、不具备冷备份功能的电路电源端发生窜电现象及对总线通讯可产生的影响,给出了冷备份的功能验证思路和方法,通过试验结果证明了冷备份功能验证的有效性。
李博王晓斐李爱平
关键词:冷备份备份
FIFO SRAM单粒子效应的测试系统设计
2015年
随着航空航天事业的发展,器件的抗辐照性能变得越来越重要,因此对抗辐照指标的应用测试已显得至关重要。基于FPGA和NI工控机,设计四通道数据采集测试系统,用于监测FIFO SRAM单粒子实验中发生的单粒子翻转(SEU)和单粒子闩锁(SEL)效应。采样率可达50 MHz,对器件的读写频率达10 MByte/s。该系统可实现对FIFO SRAM单粒子试验过程的远程测控。在监测单粒子翻转的过程中,既监测存储器的SEU效应,又监测了读写指针的SEU效应,并经过实际的单粒子效应测试验证了本系统的可靠性。
刘永灿潘滨李爱平
关键词:单粒子效应存储器测试
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