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洪娇

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:河北工业大学信息工程学院微电子技术与材料研究所更多>>
发文基金:河北省自然科学基金河北省教育厅科研基金国家中长期科技发展规划重大专项更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇平坦化
  • 1篇化学机械平坦...
  • 1篇腐蚀电流
  • 1篇腐蚀电位

机构

  • 1篇河北工业大学

作者

  • 1篇王傲尘
  • 1篇刘玉岭
  • 1篇刘伟娟
  • 1篇李炎
  • 1篇杨志欣
  • 1篇洪娇

传媒

  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2014
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
催化反应对低磨料浓度化学机械平坦化的影响
2014年
通过低磨料浓度下催化反应对铜膜抛光速率的影响,证实了纳米SiO2胶体作为催化反应物可以极大地提高铜膜表面的化学反应速率。通过浸泡在不同磨料浓度抛光液中的铜电极表面腐蚀电位和腐蚀电流数值,进一步证实了催化反应能够加速凹处钝化膜的生成,并确定了在静态腐蚀条件下催化反应速率转换临界点所对应的纳米SiO2溶胶浓度为0.1vol%和1vol%。根据催化反应对铜晶圆各平坦化参数的影响,确定了低磨料CMP的最佳纳米SiO2溶胶浓度为0.3vol%,此时铜晶圆的抛光速率、台阶消除量、平坦化效率、碟形坑高度和腐蚀坑高度分别为535nm/min、299nm、56%、103nm和19nm。
李炎刘玉岭王傲尘刘伟娟洪娇杨志欣
关键词:化学机械平坦化腐蚀电位腐蚀电流
共1页<1>
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