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文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 6篇测试仪
  • 2篇电器
  • 2篇定制
  • 2篇在线测试仪
  • 2篇时间片
  • 2篇自动化
  • 2篇可定制
  • 2篇继电器
  • 2篇测试程序
  • 2篇测试回路
  • 2篇测试条件
  • 2篇测试自动化

机构

  • 6篇中兴通讯股份...

作者

  • 6篇傅佳芳
  • 4篇高延玲
  • 4篇黄一川
  • 4篇汪步江
  • 2篇王永静
  • 2篇刘彬
  • 2篇段靖荒
  • 2篇鹿祥宾
  • 2篇廖继红

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2011
  • 1篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2007
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
一种在线测试仪的继电器测试方法
本发明公开了一种在线测试仪的继电器测试方法,其包括以下步骤:建立被测继电器的冗余通路,即建立多条通路,除被测继电器外,每条通路经过的继电器完全不同;在其中一条通路中有继电器损坏的情况下,选择另外的通路形成闭合回路,继续进...
王永静傅佳芳刘彬段靖荒廖继红鹿祥宾
文献传递
一种实现可定制测试流程的方法
本发明公开了一种实现可定制测试流程的方法,包括:根据被测对象特性将其相关的所有测试流程划分成多个测试项,并针对每个测试项,实现与之相应的测试项模块;根据被测对象的测试要求,定义与测试要求对应的独立的测试流程文件;执行测试...
汪步江傅佳芳黄一川高延玲
文献传递
一种用于测试仪的分时测试方法
本发明公开了一种用于测试仪的分时测试方法,包括,根据被测对象的测试特性和方法,将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项;将上位机软件处理时间分片,在单个时间片内,上位机只与一个下位机进行通讯,依次完成所有下...
傅佳芳黄一川汪步江高延玲
文献传递
一种在线测试仪的继电器测试方法
本发明公开了一种在线测试仪的继电器测试方法,其包括以下步骤:建立被测继电器的冗余通路,即建立多条通路,除被测继电器外,每条通路经过的继电器完全不同;在其中一条通路中有继电器损坏的情况下,选择另外的通路形成闭合回路,继续进...
王永静傅佳芳刘彬段靖荒廖继红鹿祥宾
文献传递
一种用于测试仪的分时测试方法
本发明公开了一种用于测试仪的分时测试方法,包括,根据被测对象的测试特性和方法,将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项;将上位机软件处理时间分片,在单个时间片内,上位机只与一个下位机进行通讯,依次完成所有下...
傅佳芳黄一川汪步江高延玲
文献传递
一种实现可定制测试流程的方法
本发明公开了一种实现可定制测试流程的方法,包括:根据被测对象特性将其相关的所有测试流程划分成多个测试项,并针对每个测试项,实现与之相应的测试项模块;根据被测对象的测试要求,定义与测试要求对应的独立的测试流程文件;执行测试...
汪步江傅佳芳黄一川高延玲
文献传递
共1页<1>
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