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郑泽渔

作品数:5 被引量:18H指数:3
供职机构:电子科技大学微电子与固体电子学院更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:一般工业技术自然科学总论理学电气工程更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 3篇一般工业技术
  • 2篇自然科学总论
  • 2篇理学
  • 1篇电气工程

主题

  • 4篇射频磁控
  • 4篇射频磁控溅射
  • 4篇溅射
  • 4篇磁控
  • 4篇磁控溅射
  • 3篇氧化锌薄膜
  • 1篇电性能
  • 1篇有效介电常数
  • 1篇瑞利波
  • 1篇射频磁控溅射...
  • 1篇声表面波
  • 1篇声表面波器件
  • 1篇特性计算
  • 1篇铁电
  • 1篇铁电性
  • 1篇铁电性能
  • 1篇频散
  • 1篇频散特性
  • 1篇介电常数
  • 1篇溅射制备

机构

  • 5篇电子科技大学
  • 2篇哈尔滨工业大...
  • 1篇成都信息工程...

作者

  • 5篇张树人
  • 5篇郑泽渔
  • 4篇杨成韬
  • 4篇孙明霞
  • 3篇董加和
  • 3篇陈祝
  • 2篇杜善义
  • 2篇李波
  • 2篇钟朝位
  • 1篇张万里
  • 1篇刘敬松
  • 1篇李健雄

传媒

  • 2篇压电与声光
  • 1篇无机材料学报
  • 1篇电子科技大学...
  • 1篇功能材料

年份

  • 2篇2007
  • 3篇2006
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
ZnO陶瓷靶制备及其薄膜RF溅射工艺研究被引量:7
2006年
利用固相反应制备了直径为70mm,厚度为10-15mm高质量掺杂Li2CO2的ZnO陶瓷靶材,实验了不同摩尔浓度的Li+掺杂对靶材性能的影响,确定了最佳Li+掺杂量为2.2mol%,同时通过在不同温度烧结实验、不同成型压力实验确定了ZnO靶材制备的最佳工艺,并采用所制备的ZnO-Li2.2%陶瓷靶和RF(射频磁控)技术在Si(100)、玻璃(载玻片)、及Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)基片上制备出高度c轴(002)择优取向的ZnO薄膜,其绝缘电阻率ρ为4.12×108Ω·cm,达到了声表面波器件(SAW)的使用要求.
陈祝张树人杜善义杨成韬郑泽渔李波孙明霞
关键词:氧化锌薄膜射频磁控溅射
ZnO掺杂Li^+陶瓷靶及溅射膜制备工艺研究被引量:6
2006年
利用固相反应成功地制备了直径为70mm,厚度为10~15mm的掺杂Li离子ZnO陶瓷靶材。研究了不同摩尔浓度的Li离子掺杂靶材,并对其绝缘电阻与损耗进行了分析比较,最终确定Li离子的最佳掺杂量为2.2l%(摩尔分数)。同时通过在不同温度烧结试验、不同成型压力试验确定了ZnO靶材制备的最佳工艺,并通过所制备的ZnO-Li0.022陶瓷靶,采用RF射频磁控溅射技术在Si(100)、玻璃(载玻片)、及Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)基片上制备出高度c轴(002)择优取向、均匀、致密的ZnO薄膜。
陈祝张树人杜善义杨成韬孙明霞郑泽渔李波董加和
关键词:氧化锌薄膜射频磁控溅射
循环间歇溅射工艺对PLT薄膜性能的影响
2006年
采用射频磁控溅射技术利用循环间歇溅射工艺,在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备出了镧钛酸铅(PLT)薄膜。通过原子力显微镜、X-射线衍射仪分析了循环间歇溅射工艺对薄膜形貌、结构和铁电性能的影响。实验结果表明,相比于连续溅射工艺,循环间歇溅射工艺的基片温度较低,且制得的PLT薄膜晶粒细小、均匀,结构致密。薄膜具有纯钙钛矿型结构,循环次数从1次增加到3次,其(100)和(200)峰衍射强度逐渐增强,结晶性提高,铁电性能逐渐增强,其饱和极化强度由28μC/cm2增大到53μC/cm2,剩余极化强度由5μC/cm2增大到12μC/cm2。循环4次溅射后,薄膜的结晶性和铁电性开始下降。
孙明霞钟朝位张树人张万里陈祝郑泽渔
关键词:射频磁控溅射铁电性能
射频磁控溅射制备声表面波器件用ZnO薄膜被引量:5
2007年
研究了采用射频磁控溅射法在SiO2/Si衬底上制备ZnO薄膜工艺中溅射功率、氧氩比(V(O2)/V(Ar))及衬底温度对ZnO薄膜结构的影响。利用X-射线衍射(XRD)和扫描力显微镜(AFM)对薄膜进行结构性能分析,表明其结构性能随工艺参数变化的规律。利用优化的工艺条件:射频功率60 W、V(O2)/V(Ar)为0.55和衬底温度350℃,在DLC/Si衬底上制备了ZnO薄膜,制作加工成声表面波滤波器件,测试分析了频率响应特性,中心频率为596.5 MHz。
郑泽渔张树人杨成韬钟朝位董加和孙明霞刘敬松
关键词:射频磁控溅射氧化锌薄膜衬底温度声表面波器件
基于ZnO/金刚石/Si结构的瑞利波频散特性计算被引量:1
2007年
结合声表面波的基本理论和递归刚度矩阵法,通过将瑞利波从声表面波中分离,推导出基于ZNO/金刚石/Si结构的有效介电常数数学模型。根据所建立的数学模型,采用Matlab编制出相应程序,计算得到瑞利波的相速度和机电耦合系数频散曲线。该频散曲线具有较高的精确性,能很好地反映出瑞利波的频散特性。本文从解基本的波动方程理论出发,得到了三层结构的有效介电常数数学模型,并且将其程序化,最终得到了声表面波器件设计中的两个重要参数,为多层薄膜器件的设计奠定了一定的基础。
董加和杨成韬郑泽渔李健雄张树人
关键词:频散特性有效介电常数瑞利波
共1页<1>
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