文芳
- 作品数：6 被引量：12H指数：3
- 供职机构：河海大学机电工程学院更多>>
- 相关领域：金属学及工艺自动化与计算机技术更多>>
- 轴对称件闪光对焊温度场有限元分析
- 2007年
- 基于闪光对焊焊接过程的有限元分析,建立了模拟轴对称件温度场的二维热电直接耦合简化模型,分析了接触电阻及相变潜热在模拟过程中的处理方法。整个有限元模拟分析表明,可得到闪光对焊焊接加热过程任一时刻温度分布及任一位置焊接热循环;模拟与实测结果基本相吻合。
- 张根元陈洪莲徐迈里文芳
- 关键词：闪光对焊温度场有限元
- 正常晶粒长大的遗传算法模拟被引量：4
- 2008年
- 引入遗传算法模拟正常晶粒长大过程,基于正常晶粒长大动力学和能量最小原理,建立晶粒长大的对应遗传规则和能量最小的适应度函数。该算法模拟结果表明:系统的晶界总周长和系统晶界能随着遗传代数的传递不断减少,系统的热力学状态趋于稳定;在5 000 GAS前后阶段的晶粒长大指数n分别为0.477和0.414,与理论值0.500相近,与正常晶粒长大的动力学规律较符合;晶粒半径分布具有Weibull函数拓朴结构形式,平均晶粒边数为5.923。遗传算法可以根据实际晶粒长大过程的约束条件对遗传规则和适应度函数进行设置,因而具有良好的柔性。
- 张根元徐迈里文芳陈洪莲
- 关键词：遗传算法适应度函数晶粒
- 逆变变压器漏感对主电路和驱动电路的影响被引量：2
- 2008年
- 漏感是影响逆变电路正常工作的主要因素。通过对逆变主电路工作过程进行分析,探讨了逆变电源在开通和关断的过渡过程中,变压器的漏感对IGBT集射极电压的影响机理,在此基础上建立了MATLAB仿真模型,通过实验验证了该模型的正确性。运用仿真更直观地反映了漏感越大,则IGBT上集射极电压尖峰越大的规律。由于密勒电容的存在,在IGBT集射极电压发生变化的时刻,驱动波形Uge的负压区上出现了不希望的电压尖峰,此电压尖峰可能使处于关断状态的IGBT组误开通,使主电路中IGBT发生短路现象。漏感越大,该现象出现的可能性越大。
- 张根元文芳田松亚顾海涛朱晓华
- 关键词：漏感主电路驱动电路仿真
- 一种新型漫反射空间测距传感器被引量：3
- 2009年
- 采用直线跟踪加斜线插补的方法焊接集装箱波纹板的折线焊缝,其关键是折弯点的检测。设计了一种能检测波纹板折线位置的激光传感器,前置于焊枪的该传感器采用主动激光光源照射波纹板表面,漫反射光线通过限位孔后照射到线阵CCD上,通过计算曝光宽度获得光斑到CCD的距离。在检测波纹板折线位置时采用最小二乘法,回归直线段和折线段的直线方程,计算两条直线的交点,准确获取折弯点。对采样信号采用模板匹配的方法来减少波纹板表面状态对成像影响,经过实验证明该传感器的直线跟踪精度满足焊缝跟踪要求,折弯位置的检测误差在±0.5 mm内,为集装箱波纹板自动焊接在折弯点焊枪姿态改变提供了有效的判据。
- 朱晓华田松亚史如森文芳顾海涛
- 关键词：几何光学激光传感器焊缝跟踪线阵CCD波纹板
- 45钢交流闪光对焊焊接热影响区晶粒长大的遗传算法被引量：3
- 2009年
- 引入遗传算法模拟了基于45钢交流闪光对焊焊接的实测温度场的焊接热影响区的奥氏体晶粒长大演化过程.应用遗传算法模拟晶粒长大时,同时考虑了系统能量最低和晶界向曲率半径方向迁移两大要素.该焊接热影响区的粗晶区和细晶区实测平均晶粒半径r分别为54.30,13.58μm,与遗传算法模拟所得的平均晶粒半径51.50μm和16.29μm结果相近.遗传算法模拟结果表明了焊接热循环过程中存在的温度梯度,使得焊接热影响区中的晶粒长大平均半径r仅为整体加热时晶粒平均半径r的66.8%.
- 张根元徐迈里田松亚文芳
- 关键词：遗传算法晶粒长大焊接热影响区
- 双零软开关逆变主电路的参数计算仿真与试验被引量：2
- 2008年
- 全桥零电压零电流脉宽调制变换器在全桥零电压脉宽调制变换器的基础之上增加了一个饱和电感和阻断电容,使一次电流在箝位续流时段很快衰减到零并保持,滞后臂的功率开关器件实现了零电流关断,超前臂的功率开关器件实现了零电压开通,但是双零软开关逆变电源的性能受电路中各种元件参数的影响。本文在分析主电路工作过程的基础上,着重分析了影响软开关逆变电源的各种参数因素,推导出了实现双零软开关的边界条件,提出了关键元件参数的计算公式,并通过在MATLAB7.0中建模仿真及搭建实际电路试验进行了验证。试验结果与仿真结果均表明主电路实现了ZVSZCS,并与理论分析相吻合,验证了双零软开关边界条件和参数计算公式的正确性。
- 田松亚顾海涛付炜亮文芳朱晓华
- 关键词：软开关零电压零电流
