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郑益民

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:杭州远方仪器有限公司更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电磁
  • 1篇电磁干扰
  • 1篇电磁兼容
  • 1篇电磁敏感度
  • 1篇电源
  • 1篇电源设备
  • 1篇断电
  • 1篇漏电流
  • 1篇敏感性
  • 1篇静电放电
  • 1篇光通量
  • 1篇二极管
  • 1篇发光
  • 1篇发光二极管
  • 1篇反向漏电
  • 1篇反向漏电流
  • 1篇UPS
  • 1篇不间断电源
  • 1篇不间断电源设...
  • 1篇MM

机构

  • 2篇杭州远方仪器...

作者

  • 2篇郑益民
  • 1篇季军
  • 1篇王晶晶

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇电子质量

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2012
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
不间断电源设备(UPS)电磁兼容的检测技术进展
2014年
不间断电源设备(UPS)作为一种高品质电源,被广泛应用于各个对电网可靠性要求较高的行业中。随着工业用电源技术的不断发展,对UPS电磁兼容(EMC-Electromagnetic Compatibility)性能及其检测技术也提出了更高的要求。该文结合UPS的EMC检测相关的国际国内标准,系统地介绍UPS的电磁干扰(EMI-Electromagnetic Interference)和电磁敏感度(EMS-Electromagnetic Susceptibility)的测试要求,并给出有效的解决方案。
王晶晶涂辛雅郑益民
关键词:UPS电磁兼容电磁干扰电磁敏感度
LED对MM和HBM静电放电敏感性的研究被引量:2
2012年
为研究机器模式(MM)及人体模式(HBM)静电放电试验对LED特性的影响,参考国际标准对半导体元件的静电放电测试要求,对LED样品分别进行MM及HBM静电放电试验。每次静电测试前后均对样品进行光电参数测试,观察样品光电参数的变化,并以此作为判别LED失效的依据。通过实验,研究对比MM静电放电和HBM静电放电试验对LED特性的影响,并从理论上探讨了相关失效机理。实验表明无论是MM静电放电还是HBM静电放电,均会造成LED反向漏电流增大,正向I-V特性"收缩",光通量一定程度的衰减。但是在静电敏感电压上有差别较大,MM静电失效电压远低于HBM静电失效电压。
涂辛雅季军郑益民潘建根
关键词:静电放电发光二极管反向漏电流光通量
共1页<1>
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