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李秋柱

作品数:2 被引量:8H指数:1
供职机构:中北大学电子与计算机科学技术学院电子测试技术国家重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电气工程

主题

  • 1篇压阻
  • 1篇压阻特性
  • 1篇微加速度计
  • 1篇微器件
  • 1篇加速度
  • 1篇加速度计
  • 1篇光程
  • 1篇光程差
  • 1篇白光干涉
  • 1篇GAAS/A...
  • 1篇测量技术

机构

  • 2篇中北大学

作者

  • 2篇李秋柱
  • 1篇丑修建
  • 1篇牛康康
  • 1篇谭振新
  • 1篇刘毅
  • 1篇刘国文
  • 1篇刘君

传媒

  • 1篇测试技术学报
  • 1篇中北大学学报...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
GaAs/AlGaAs薄膜压阻特性研究
2010年
为了探索新的微机电转换方法,提出一种GaAs/AlGaAs压阻薄膜结构.该结构采用分子束外延生长技术(MBE),在半绝缘GaAs衬底(001)方向上生长GaAs/Al0.4Ga0.6As半导体薄膜制备而成.利用表面微机械工艺和体微机械工艺,加工制作了基于GaAs/Al0.4Ga0.6As压敏电阻条的加速度计结构,室温条件下利用拉曼光谱仪测试系统测试了悬臂梁上压阻薄膜的应变因子.研究了该薄膜结构的压阻效应,得到Al0.4Ga0.6As的应变因子可达70,相当于AlN-GaN超晶格结构压阻的值,有望应用于新的微机械力电耦合器件中.
李秋柱刘国文谭振新
关键词:GAAS/ALGAAS压阻特性微加速度计
基于白光干涉测量技术的微器件三维形貌重构被引量:8
2009年
垂直扫描法可以重构微系统中微纳结构的表面形貌,更适合具有台阶结构的微纳结构,其分辨率高、解算速度快、精度较高.本文利用基于白光干涉技术的垂直扫描法,对微器件的台阶形貌在微系统测试仪下所得的干涉图进行分析,并重构台阶结构的表面形貌,微系统测试仪所取的干涉图符合垂直扫描法的要求,即光强峰值附近没有达到饱和,得出了清晰的三维形貌图,解算出的台阶高度和实际台阶高度一致,其横向分辨率为1.6μm,纵向分辨率为0.05μm.
李秋柱刘毅牛康康刘君丑修建
关键词:微器件白光干涉
共1页<1>
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