苏瑞
- 作品数:2 被引量:2H指数:1
- 供职机构:四川大学物理科学与技术学院辐射物理及技术教育部重点实验室更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:理学更多>>
- VO_2(A)型薄膜表面形貌与相变性能的相关性被引量:2
- 2011年
- 以高纯五氧化二钒(V2O5)粉末(纯度≥99.99%)为原料,采用真空蒸发——还原工艺制备出VO2(A)型薄膜(A表示发生热致相变的薄膜)。讨论退火温度对VO2(A)型薄膜表面形貌的影响,并进一步研究表面形貌与薄膜光电性质的相关性。结果显示:当退火温度从500℃升高到540℃,VO2(A)型薄膜中层状特征减弱并消失,山峰状颗粒出现并增大,当退火温度继续升高,VO2(A)型薄膜中山峰状颗粒是先减小再增大,但是其尺寸趋于一致,约为50nm;随着VO2(A)型薄膜形貌的改变,相变温度点、数量级、热滞回线宽度等相变性能参数也会改变;VO2(A)型薄膜相变温度点降低,其在所测波段的透过率会降低,但只有在中红外波段,薄膜在相变前后透过率的改变量与电阻变化的数量级有关。
- 郭英杰刘中华苏瑞陈家胜何捷
- 关键词:退火温度表面形貌
- 1.0 MeV电子辐照致VO_2(B)薄膜结构与光谱改变研究
- 2010年
- 本文以能量为1.0MeV的电子束辐照VO2(B)薄膜,对电子辐照在薄膜中产生的缺陷进行了理论计算,同时使用X射线衍射仪、原子力显微镜、分光光度计对薄膜进行测试,分析了电子辐照对薄膜结构、形貌与紫外-可见光谱(280-880nm)的影响。结果显示:电子辐照可以在薄膜中引入点缺陷并产生退火效应,电子辐照使薄膜的表面晶粒细化,辐照后薄膜光谱的吸收峰位发生移动,其移动的最大位移达到21nm,辐照后薄膜的光学禁带宽度也有所增加。
- 王玲珑孟庆凯何捷郭英杰苏瑞陈家胜
- 关键词:光谱