您的位置： 专家智库 > >

顾晓明

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：上海理工大学光电信息与计算机工程学院更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇折射率
  • 1篇透射
  • 1篇透射光
  • 1篇透射光谱
  • 1篇光谱
  • 1篇光学
  • 1篇光学参数

机构

  • 1篇上海理工大学

作者

  • 1篇王铿
  • 1篇贾宏志
  • 1篇顾晓明
  • 1篇朱一

传媒

  • 1篇光学仪器

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
全选 清除 导出
排序方式：
透射光谱法测试薄膜的光学参数被引量：3
2009年
推导了使用透射光谱极值法来确定薄膜光学参数的理论公式,并对溶胶—凝胶法制作的掺不同浓度二氧化锡的二氧化硅薄膜的折射率和厚度进行了计算。由于透射光谱法来确定薄膜的光学参数时需要其有一定的厚度来形成干涉峰,而用溶胶凝胶浸渍法单次提拉的薄膜厚度太薄,因此用多次提拉的方法来增加厚度。最后借助于柯西色散公式,在其它波段对折射率进行了拟合。结果表明,薄膜的折射率随着二氧化锡含量的增加而增加,相同提拉次数的薄膜厚度也基本相同。
顾晓明贾宏志王铿朱一
关键词：透射光谱光学参数折射率
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0