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石慧明

作品数：8 被引量：1H指数：1
供职机构：西安电子科技大学更多>>
相关领域：电子电信理学机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 3篇衍射
  • 3篇衍射极限
  • 3篇光学
  • 3篇光照
  • 2篇单色仪
  • 2篇杜瓦
  • 2篇杜瓦瓶
  • 2篇散射
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片质量
  • 2篇CCD芯片
  • 2篇彩色CCD
  • 2篇测试装置
  • 2篇成像系统
  • 1篇单链
  • 1篇电路
  • 1篇一体机
  • 1篇散射介质
  • 1篇数据立方
  • 1篇数据立方体

机构

  • 7篇西安电子科技...

作者

  • 7篇石慧明
  • 5篇邵晓鹏
  • 3篇杜娟
  • 3篇吴腾飞
  • 3篇李慧娟
  • 3篇刘飞
  • 3篇龚昌妹
  • 2篇徐军
  • 2篇王旭
  • 2篇王琳
  • 2篇孙昊洋
  • 1篇申仑
  • 1篇韩凯

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 2篇2015
  • 3篇2014
共 8 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像系统及方法
本发明公开了一种基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像系统及方法，主要解决现有同类技术工艺复杂、成像时间长、系统结构难实现、成像分辨率低的问题。其成像系统包括：光源、扩束器、空间光调制器、λ/4波片、扩束透镜组、挡光板...
邵晓鹏吴腾飞代伟佳石慧明龚昌妹骆秋桦刘飞杜娟彭立根李慧娟
彩色CCD芯片的色彩测试装置及方法
本发明公开了一种彩色CCD芯片的色彩测试装置，主要解决现有测试装置不能对彩色CCD芯片色彩质量准确判断的问题。该装置包括依次连接的氙灯光源、单色仪、衰减器、积分球、暗室、杜瓦瓶温控室、驱动控制电路和上位机。待测彩色CCD...
王琳徐军王旭邵晓鹏孙昊洋石慧明
文献传递
基于IEEE P1687网络的单链全扫描结构测试方法研究
集成电路制造工艺进入深亚微米级别以后，芯片的特征尺寸缩小，单个芯片上所集成的功能模块越来越多，系统复杂度增加。传统的依靠工程师经验的自顶向下芯片设计方法已经不能适应瞬息万变的市场需求，基于IP（Intellectual ...
石慧明
关键词：片上系统可测试性设计集成电路
基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像系统及方法
本发明公开了一种基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像系统及方法，主要解决现有同类技术工艺复杂、成像时间长、系统结构难实现、成像分辨率低的问题。其成像系统包括：光源、扩束器、空间光调制器、λ/4波片、扩束透镜组、挡光板...
邵晓鹏吴腾飞代伟佳石慧明龚昌妹骆秋桦刘飞杜娟彭立根李慧娟
文献传递
一种集成打印设备的一体机
本实用新型公开一种集成打印设备的一体机，其中集成打印设备的一体机高度集成了多个设备，如主机单元、显示器、键盘、打印设备等，以方便办公人员使用，并且，该可折叠集成化一体机替代传统的多人共享打印设备，以节约等待打印的时间，提...
申仑石慧明韩凯
文献传递
基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像方法
本发明公开了一种基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像方法，主要解决现有同类技术工艺复杂、成像分辨率低的问题。其技术方案是：1.对采集到的原始图像进行图像亮度均一化处理和傅立叶变换操作，获得对应的频谱；2.通过控制空间...
邵晓鹏吴腾飞代伟佳石慧明龚昌妹骆秋桦刘飞杜娟彭立根李慧娟
文献传递
彩色CCD芯片的色彩测试装置及方法
本发明公开了一种彩色CCD芯片的色彩测试装置，主要解决现有测试装置不能对彩色CCD芯片色彩质量准确判断的问题。该装置包括依次连接的氙灯光源、单色仪、衰减器、积分球、暗室、杜瓦瓶温控室、驱动控制电路和上位机。待测彩色CCD...
王琳徐军王旭邵晓鹏孙昊洋石慧明
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