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张云

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:湖南大学信息科学与工程学院(软件学院)更多>>
发文基金:国家自然科学基金教育部留学回国人员科研启动基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术自然科学总论更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇自然科学总论

主题

  • 2篇低功耗
  • 2篇可测性
  • 2篇可测性设计
  • 2篇功耗
  • 1篇低功耗测试
  • 1篇功耗测试
  • 1篇TSP
  • 1篇测试数据
  • 1篇存储量

机构

  • 3篇湖南大学

作者

  • 3篇张云
  • 2篇邝继顺
  • 2篇尤志强
  • 1篇刘鹏
  • 1篇彭程

传媒

  • 2篇计算机工程

年份

  • 2篇2011
  • 1篇2010
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于TSP的低功耗低费用测试方法被引量:1
2011年
扫描链阻塞技术可以有效地降低电路测试时的峰值和平均功耗,但是扫描测试应用时间有所增加。为了解决这一问题,通过有效利用测试向量之间的相容性,提出一种基于TSP问题的降低测试应用时间的方法。实验结果表明,该方法能够较大幅度地降低测试应用时间。
张云尤志强邝继顺彭福慧
关键词:可测性设计
一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法
2011年
为进一步降低测试功耗及测试应用时间,提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法。该方法考虑前后2个测试向量之间不相容的扫描子链,后一个测试向量可以由扫描输入移入若干位以及前一个测试向量的前若干位组合而成。实验结果表明,该方法能够有效减少测试应用时间,提升效率。
刘鹏张云尤志强邝继顺彭程
关键词:可测性设计
基于扫描链阻塞技术降低测试费用的方法研究
为了保证集成电路产品的质量,测试是非常重要的一个环节,然而随着被测电路变得日益复杂,集成度不断提高,测试变得非常困难,测试成本越来越高。因此,如何解决测试成本过高,并且实现对集成电路高效测试的问题将变得尤为重要。一种基于...
张云
关键词:低功耗测试
文献传递
共1页<1>
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