曹绍谦
- 作品数:13 被引量:24H指数:3
- 供职机构:中国科学院上海光学精密机械研究所更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金国际科技合作与交流专项项目更多>>
- 相关领域:理学机械工程电子电信更多>>
- 基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术被引量:4
- 2013年
- 针对已有米勒矩阵测量方法的不足,提出了一种基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术,给出了米勒矩阵测量优化算法及系统参数两步校准法。该技术通过两步校准法对系统参数进行校准测量,利用优化算法计算得到待测样品的米勒矩阵。实验结果表明,待测1/4波片相位延迟量测量值为90.4185°,误差在标称偏差λ/300以内,快轴方位角测量值为0.2348°,误差在最大旋转误差0.4°以内。同快轴方位角为0°的1/4波片标准米勒矩阵相比,待测1/4波片米勒矩阵各元素最大相对误差的直接测量值和间接测量值分别为1.97%和0.83%,均小于最大相对误差的模拟仿真值2.11%。通过提高旋转台的读数精度和减小相位延迟量的标称偏差,可以进一步减小米勒矩阵各元素的最大相对误差。
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- 关键词:偏振米勒矩阵校准
- 一种提高偏振光斯托克斯参量测量精度的方法被引量:14
- 2013年
- 波片相位延迟量误差是影响旋转波片法斯托克斯(Stokes)参量测量精度的主要因素。通过对传统旋转波片法测量Stokes参量的原理进行理论分析,研究了测量误差与相位延迟量误差之间关系,提出了提高偏振光Stokes参量测量精度的方法。该方法通过调整检偏器透光轴方向与待测光束偏振方向成90°或45°后再进行测量,可有效减小波片相位延迟量误差对Stokes参量测量的影响。实验结果表明,当相位延迟量误差小于1.2°时,采用所提出的优化旋转波片法使Stokes参量测量误差从传统旋转波片法的4.31%减小到0.33%。
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- 基于单光弹调制器的米勒矩阵测量误差分析被引量:1
- 2013年
- 针对已有单光弹调制器米勒矩阵测量技术缺乏定量误差分析的不足,提出了单光弹调制器米勒矩阵测量误差方程,给出了相对误差分析方法,并结合矩阵条件数得到了降低米勒矩阵各元素最大相对误差的两组1/4波片方位角优化组合。实验结果表明,该两组1/4波片方位角优化组合,测量得到的待测1/4波片米勒矩阵各元素的最大相对误差分别为0.12%和0.20%,相比传统1/4波片方位角优化组合{-90°,-45°,30°,60°}条件下得到的各元素最大相对误差为0.83%,分别降低了85.54%和75.90%。
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- 关键词:偏振米勒矩阵条件数
- 全光场偏振像差检测装置及检测方法
- 一种全光场偏振像差检测装置及检测方法。该装置包括:全偏振态发生器PSG、全偏振态分析器PSA及信号处理和控制系统。该检测方法包括:改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小,进行第一次测量;改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小...
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- 文献传递
- 全光场偏振像差检测装置
- 一种全光场偏振像差检测装置,该装置包括:全偏振态发生器、全偏振态分析器及信号处理和控制系统。本实用新型具有结构简单、共光轴且稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。
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- 文献传递
- 光束斯托克斯参量测量装置及测量方法
- 一种光束斯托克斯参量测量装置及测量方法,该偏振测量装置由分光棱镜组、相位延迟器阵列、检偏器、光电探测器阵列以及信号处理系统组成,光电探测器阵列各单元与相位延迟器阵列各单元一一对应。该测量方法为:采用相位延迟器阵列代替旋转...
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- 文献传递
- 全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法
- 一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法,该装置包括:补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括:改变偏控电压,得到电光延迟为2π的光强矩阵;改变偏控电压,得...
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- 文献传递
- 全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法
- 一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法,该装置包括:补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括:改变偏控电压,得到电光延迟为2π的光强矩阵;改变偏控电压,得...
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- 全光场全斯托克斯参量检测装置
- 一种全光场全斯托克斯参量检测装置,该装置包括:补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括:改变偏控电压,得到电光延迟为2π的光强矩阵;改变偏控电压,得到电光延迟...
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- 基于单光弹调制器的米勒矩阵测量方法
- 米勒矩阵是描述光学材料及元器件光学各向异性、旋光性的有效且普遍的方法。不同于旋转光学元件法,相位调制法可以实现相位自动调制,且调制频率高,能够保证米勒矩阵的测量精度。光弹调制器具有高灵敏度、宽光谱范围及高精度相位调制的特...
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- 文献传递