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丁益民

作品数：3 被引量：16H指数：2
供职机构：成都地质学院更多>>
相关领域：天文地球金属学及工艺机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 1篇天文地球
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程

主题

  • 2篇荧光
  • 2篇射线
  • 2篇薄层
  • 2篇X射线
  • 1篇镀层
  • 1篇英文
  • 1篇荧光法
  • 1篇荧光分析
  • 1篇涂层
  • 1篇工件
  • 1篇厚度
  • 1篇厚度测量
  • 1篇成矿
  • 1篇成矿规律
  • 1篇成矿规律研究

机构

  • 2篇成都理工大学
  • 1篇成都地质学院

作者

  • 3篇丁益民
  • 2篇曹利国
  • 1篇敖奇
  • 1篇杨耕东
  • 1篇朱创业
  • 1篇张寿庭

传媒

  • 2篇成都地质学院...
  • 1篇核技术

年份

  • 2篇1992
  • 1篇1989
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
X射线荧光吸收法测量薄层厚度的尝试(英文)被引量：2
1989年
当特征X射线能量较小时,吸收曲线在薄层范围内斜率很大。利用这一特点来测定薄层吸收体的厚度具有很高的灵敏度。文章阐述了这一方法的原理、计算方法和实验技术。实验数据证实了有关理论分析的正确性和可行性。
曹利国丁益民敖奇
关键词：厚度测量薄层X射线
X射线荧光方法在成矿规律研究中的应用被引量：11
1992年
该文将X射线荧光方法的现场测量结果,与地质研究密切结合,总结成矿规律。
张寿庭丁益民朱创业杨耕东
关键词：X射线荧光分析成矿规律
用X射线荧光方法测定薄层样品、镀层和涂层的厚度被引量：3
1992年
该文提出用特征X射线的发射(表层特征谱线照射量率法)或吸收(底层特征谱线吸收法)来测定薄层或涂层的厚度。并根据大量的实验数据和理论分析,确立了正确选择工作条件及确定方法适用范围的依据。实践证明了方法的可靠性和实用性。
曹利国丁益民敖奇
关键词：工件薄层镀层涂层厚度荧光法
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共1页<1>
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