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谢天生

作品数：27 被引量：36H指数：3
供职机构：中国科学院金属研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划中国科学院“百人计划”更多>>
相关领域：一般工业技术金属学及工艺理学电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 14篇期刊文章
  • 8篇专利
  • 5篇会议论文

领域

  • 7篇一般工业技术
  • 6篇金属学及工艺
  • 3篇电子电信
  • 3篇理学
  • 2篇电气工程
  • 1篇化学工程

主题

  • 5篇离子束
  • 5篇离子束加工
  • 5篇纳米
  • 4篇显微镜
  • 3篇扫描电镜
  • 3篇扫描隧道显微...
  • 3篇合金
  • 2篇电解质
  • 2篇电镜
  • 2篇电子成像
  • 2篇电子束
  • 2篇电子显微镜
  • 2篇多层膜
  • 2篇压痕
  • 2篇散射
  • 2篇射电
  • 2篇双环
  • 2篇天然石墨
  • 2篇天然石墨球
  • 2篇透射电镜

机构

  • 24篇中国科学院金...
  • 2篇中国科学院
  • 2篇沈阳材料科学...
  • 1篇西安交通大学

作者

  • 27篇谢天生
  • 8篇谭军
  • 6篇叶恒强
  • 5篇张磊
  • 4篇李斗星
  • 4篇谭军
  • 3篇孟祥敏
  • 3篇范兆忠
  • 3篇张广平
  • 3篇温井龙
  • 2篇于瀛大
  • 2篇王绍青
  • 2篇平德海
  • 2篇李峰
  • 2篇成会明
  • 2篇兰建章
  • 2篇曲哲
  • 2篇戴贵平
  • 2篇张宏立
  • 2篇张广平

传媒

  • 5篇金属学报
  • 5篇电子显微学报
  • 1篇分析化学
  • 1篇材料研究学报
  • 1篇炭素技术
  • 1篇中国科学院研...
  • 1篇2006年全...
  • 1篇第三次中国电...
  • 1篇2005年全...
  • 1篇中国金属学会...

年份

  • 1篇2010
  • 2篇2008
  • 3篇2007
  • 2篇2006
  • 4篇2005
  • 1篇2001
  • 1篇2000
  • 3篇1999
  • 2篇1998
  • 1篇1997
  • 1篇1996
  • 1篇1995
  • 1篇1994
  • 1篇1993
  • 1篇1991
  • 1篇1990
  • 1篇1983
共 27 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
Cu-Ni多层膜纳米压痕下微观变形结构的研究被引量：3
2005年
谭军谢天生张广平
关键词：纳米压痕技术金属多层膜微电子机械系统
扫描隧道显微镜功函数信息成像装置
本实用新型涉及一种扫描隧道显微镜的功函数信息成像装置,包括带探针的扫描器、放大器、比例积分器、模数、数模转换器及计算机装置,其中加设一信号发生器和锁相放大器,其锁相放大器的一个输入端接至所述对数放大器A<Sub>2</S...
谢天生范兆忠赵玉清叶恒强
文献传递
高定向石墨表面激光溅射硼及超结构的扫描隧道显微镜观察
1999年
利用扫描隧道显微镜直接观察到了在高定向石墨（HOPG）表面激光溅射硼的赋存状态，分析了HOPG表面亮点和黑洞的形成原因；
谢天生戴贵平成会明范兆忠叶恒强
关键词：高定向石墨激光溅射硼超结构STM
高定向石墨(HOPG)氧化机理的研究
描电子显微镜（ＳＥＭ）、透射电子显微镜（ＴＥＭ）和扫描隧道电子显微镜（ＳＴＭ）等现代分析手段，对高定向热解石墨（ＨＯＰＧ）中的缺陷及其对氧化反应的影响进行了观察和表征；研究了激光溅射硼在ＨＯＰＧ表面的各种分布形貌，在原子...
张伟刚谢天生
关键词：高定向石墨激光溅射
Ti-Ni-Si纳米合金的制备和特性被引量：3
1995年
Ｔｉ（７０）Ｎｉ（２０）Ｓｉ（１０）非晶合会在５００－８００℃范围内经１ｈ退火后。可形成平均晶粒度为８－１２０ｎｍ的纳米合金．Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）和透射电镜（ＴＥＭ）的结果表明。不同平均晶粒度的纳米合金样品中，相的组成相同．即Ｔｉ２Ｎｉ和Ｔｉ５Ｓｉ３以及少量的α－Ｔｉ晶体相．显微硬度（ＨＶ）的测量表明，纳米合金样品的显微硬度值比铸态或非晶态样品高一倍左右，但是，随着平均晶粒度的减小，硬度值的变化并不满足线性的Ｈａｌｌ－ｐｅｔｃｈ关系。
平德海谢天生金志雄李斗星叶恒强
关键词：纳米合金显微硬度金属玻璃钛基合金
一种用离子束加工样品界面实现背散射表征的方法
本发明涉及一种用离子束加工样品界面实现背散射表征的方法，属于利用双束聚焦离子束系统加工表征界面从而实现背散射成像方法，采用双倾转样品台固定表征样品进行离子束制备表征界面和实现背散射成像。在聚焦离子束系统中将样品固定，需要...
谭军张磊张广平谢天生
文献传递
俄歇定量分析中标准试样的制备
1991年
本文简要介绍了Auger定量分析的方法和对标准试样的要求,提出了较为适合的试样熔化,热处理,机械加工及表面清洗等工艺过程。并设计制造了一个简易的表面清洗装置,可得到较大面积的清洁表面,实验结果表明,采用本文所提出的方法处理标样可以满足做Auger定量分析的需要。
曲哲谢天生
高分辨电子显微像的定量分析与应用II.InGaAs/GaAs应变层超晶格的高分辨像定量分析被引量：1
1998年
使用高分辨像定量分析方法和像模拟技术，对外延生长的ＧａＡｓ／ＩｎｘＧａ１－ｘＡｓ应变层超晶格的微观组态进行了详细的分析。用像模拟验证了成像位置与结构投影的对应关系。使用像点定位及畸变测量的分析方法，获得了晶格畸变位移分布图及畸变沿生长方向的分布曲线，扣除由四方畸变导致的点阵膨胀与收缩，得到了仅由Ｉｎ元素分布导致的点阵参数变化曲线。由晶格参数与Ｉｎ元素含量的线性对应关系，获得了超晶格中Ｉｎ元素沿生长方向的分布曲线。
兰建章王绍青孟祥敏于瀛大谢天生李斗星
关键词：电子显微镜应变层超晶格半导体材料
Cu-Ni多层膜纳米压痕下微观变形结构的研究
谭军谢天生张广平
文献传递
AZ91D镁合金大气腐蚀初期产物的结构分析
谭军谢天生
文献传递
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