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孙东东

作品数:7 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学技术大学更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 6篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇带宽
  • 2篇数据更新
  • 2篇数据块
  • 2篇图像
  • 2篇晶体管
  • 2篇半导体
  • 2篇场效应
  • 2篇场效应晶体管
  • 2篇磁盘
  • 1篇修饰
  • 1篇氧化物
  • 1篇栅介质
  • 1篇容错
  • 1篇冗余
  • 1篇冗余数据
  • 1篇数字图像
  • 1篇图像处理
  • 1篇器件尺寸
  • 1篇中校
  • 1篇最小化

机构

  • 7篇中国科学技术...

作者

  • 7篇孙东东
  • 2篇许胤龙
  • 2篇吴思
  • 2篇李永坤

年份

  • 1篇2025
  • 3篇2024
  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
基于带宽比较的磁盘阵列扩容时校验更新方式选择方法
本发明公开了一种基于带宽比较的磁盘阵列扩容时校验更新方式选择方法,特征是包括设计建立存储结构、计算不同方式更新校验数据所需读取的数据块、维护存储结构、校验更新方式选择策略;在更新扩容过程中校验数据时,根据不同方式所需读取...
许胤龙孙东东李永坤吴思
文献传递
测量微纳器件尺寸的方法、装置、设备及存储介质
本公开提供了一种测量微纳器件尺寸的方法、装置、设备及存储介质,可以应用于计算机技术领域、图像处理技术领域、精密测量技术领域和微纳加工与表征技术领域。该方法包括:从第一数字图像中截取目标区域,其中,目标区域包括至少两条相互...
石媛媛孙东东李傲
容错存储系统校验更新及修复优化技术研究
近年来随着数据的爆炸式增长,数据的存储规模越来越大,传统的单机系统已经无法满足高速增长的数据存储需求。分布式存储系统使用大量廉价商用服务器通过网络互联,可以提供极强的服务能力和扩展能力。然而,随着集群规模的变大、存储设备...
孙东东
关键词:纠删码容错冗余数据
文献传递
一种快速检测二维材料中缺陷的方法
本发明公开了一种快速检测二维材料中缺陷的方法,涉及半导体技术领域,成型用于缺陷检测的样品,样品自下而上依次为衬底、二维材料和修饰层;样品成型以及二维材料的缺陷检测方法具体为:步骤一、将选定的衬底放入沉积设备中,以沉积出待...
石媛媛 闵钰峰孙东东 朱贵旭 方伍庆 陆秋霞
基于带宽比较的磁盘阵列扩容时校验更新方式选择方法
本发明公开了一种基于带宽比较的磁盘阵列扩容时校验更新方式选择方法,特征是包括设计建立存储结构、计算不同方式更新校验数据所需读取的数据块、维护存储结构、校验更新方式选择策略;在更新扩容过程中校验数据时,根据不同方式所需读取...
许胤龙孙东东李永坤吴思
文献传递
基于高-k栅介质的二维半导体场效应晶体管及其制作方法
本发明公开了一种基于可消除缓冲层的高‑k栅介质集成技术的二维半导体场效应晶体管的制作方法,包括:在衬底上依次沉积背栅电极和背栅介质;将沟道层转移到背栅介质上;在沟道层上依次形成缓冲层、源极、漏极、高‑k介质材料形成的顶栅...
石媛媛方伍庆房浩天孙东东朱贵旭蓝龚鹏闵钰峰
场效应晶体管的局部界面调控方法及场效应晶体管
本公开提供了一种场效应晶体管的局部界面调控方法,局部界面调控方法包括:在衬底上制备电介质层;对电介质层进行局部光刻和粗糙化处理;在电介质层上转移2D材料;通过光刻和刻蚀制备出2D材料的沟道区域;以及在2D材料上进行光刻和...
石媛媛房浩天孙东东
共1页<1>
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