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韩敬宁

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:大连理工大学更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇钝化
  • 1篇压电式
  • 1篇射频功率
  • 1篇深反应离子刻...
  • 1篇喷墨
  • 1篇喷墨打印
  • 1篇喷墨打印头
  • 1篇离子刻蚀
  • 1篇刻蚀
  • 1篇硅基
  • 1篇反应离子
  • 1篇反应离子刻蚀
  • 1篇干法刻蚀
  • 1篇SIO2薄膜
  • 1篇打印头

机构

  • 2篇大连理工大学

作者

  • 2篇韩敬宁
  • 1篇邹赫麟
  • 1篇殷志富

传媒

  • 1篇仪表技术与传...

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
硅基深宽比结构与SiO2薄膜的干法刻蚀方法研究被引量:2
2015年
文中研究了贯穿刻蚀硅基直壁沟槽及沟槽底部SiO_2薄膜过刻蚀的深反应离子刻蚀(DRIE)工艺过程。首先,研究了DRIE刻蚀钝化时间比(T_(SF6)∶T_(C4F8))对硅刻蚀形貌的影响。通过工艺参数优化,采用刻蚀钝化时间比分别为9 s/2 s、11 s/2 s(C_4F_8)下电极射频功率为40 W)和11 s/2 s(C_4F_8下电极射频功率为0 W)的三步刻蚀工艺,贯穿刻蚀了宽度为150μm,深度为300μm的直壁沟槽。其次,研究了C_4F_8(八氟环丁烷)钝化气体对SiO_2薄膜过刻蚀的现象,采用降低C4F8下电极射频功率方法,减小了C4F8对SiO_2薄膜过刻蚀。
颜改革韩敬宁殷志富邹赫麟
关键词:深反应离子刻蚀射频功率SIO2薄膜
压电喷墨结构设计及其制造工艺优化
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韩敬宁
共1页<1>
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