2025年4月3日
星期四
|
欢迎来到营口市图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
董少华
作品数:
10
被引量:7
H指数:2
供职机构:
中国科学院微电子研究所
更多>>
相关领域:
电子电信
医药卫生
自动化与计算机技术
更多>>
合作作者
朱阳军
中国科学院微电子研究所
陆江
中国科学院微电子研究所
王任卿
中国科学院微电子研究所
胡爱斌
中国科学院微电子研究所
卢烁今
中国科学院微电子研究所
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
7篇
专利
2篇
学位论文
1篇
会议论文
领域
2篇
电子电信
1篇
自动化与计算...
1篇
医药卫生
主题
7篇
热阻
4篇
封装
3篇
结构函数
3篇
IGBT器件
2篇
导热
2篇
导热硅脂
2篇
有效面积
2篇
图形化
2篇
图形化显示
2篇
温度场
2篇
温度场分布
2篇
温度分布
2篇
温度曲线
2篇
结壳
2篇
结温
2篇
硅脂
2篇
封装结构
2篇
封装器件
2篇
峰值结温
2篇
层结构
机构
8篇
中国科学院微...
2篇
山东大学
2篇
江苏物联网研...
2篇
江苏中科君芯...
作者
10篇
董少华
5篇
朱阳军
3篇
王任卿
3篇
陆江
2篇
卢烁今
2篇
胡爱斌
1篇
田晓丽
传媒
1篇
2013‘全...
年份
1篇
2019
1篇
2018
1篇
2017
1篇
2015
5篇
2014
1篇
2013
共
10
条 记 录,以下是 1-10
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
一种测量双极性器件峰值结温分布的方法
本发明公开了一种测量双极性器件峰值结温分布的方法,属于双极性器件的技术领域。该方法包括采集双极性器件的多阶梯恒流脉冲所对应的温敏参数,获得双极性器件的电流-温敏参数-温度三维曲线簇;选定基准电流,得到基准电流的序列;根据...
朱阳军
董少华
王任卿
陆江
文献传递
IGBT器件热可靠性的研究
诞生于1982年的IGBT,是新型高频大功率电力半导体器件中的代表性器件,自问世以来以其独特、不可取代的功能,迅速应用到了国民经济中的各行各业,表现出极强的生命力和发展潜力。 对于大功率器件IGBT来说,器件常常工作在...
董少华
关键词:
IGBT器件
热阻测试
结构函数
失效模式
封装设计
文献传递
一种测量MOSFET器件峰值结温分布的方法
本发明公开了一种测量MOSFET器件峰值结温分布的方法,属于MOSFET器件的技术领域。该方法包括在恒温装置里采集MOSFET器件的多阶梯恒流脉冲所对应的温敏参数,获得MOSFET器件的电流-温敏参数-温度三维曲线簇;选...
朱阳军
陆江
董少华
田晓丽
王任卿
文献传递
一种获得IGBT器件热阻的系统和方法
本发明公开了一种获得IGBT器件热阻的系统和方法,属于大功率器件的技术领域。本系统包括建模模块、网格划分模块、施加条件模块、温度分布模块和计算热阻模块;建模模块根据IGBT器件的组件的特性参数建立三维模型;网格划分模块将...
董少华
朱阳军
卢烁今
胡爱斌
文献传递
半导体器件封装结构的检测方法
本发明提供了一种半导体器件封装结构的检测方法,包括:利用热阻测试仪检测待测的半导体器件封装结构,得到第一微分热阻结构函数曲线;对该封装结构进行失效试验;利用热阻测试仪检测该封装结构,得到第二微分热阻结构函数曲线;比较所得...
董少华
朱阳军
卢烁今
田晓丽
文献传递
新辅助化疗联合腹腔热灌注治疗晚期卵巢癌疗效与预后分析
目的: 探讨新辅助化疗联合腹腔热灌注治疗晚期卵巢癌临床疗效与预后判断价值。 方法: 选择2012年1月~2013年10月诊断晚期卵巢癌患者120例,根据病人病情随机分三组,三组分别为:对照组、腹腔热灌注组、新辅助化...
董少华
关键词:
卵巢癌
化学疗法
腹腔热灌注
临床预后
测试IGBT热阻的一种新方法
本文采用一种测试器件热阻的新方法:瞬态双界面法,通过介绍该方法的原理,将其应用到大功率器件IGBT上,所得到的器件的结壳热阻值具有较高的精度。
董少华
关键词:
绝缘栅双极型晶体管
文献传递
一种获得IGBT器件热阻的系统和方法
本发明公开了一种获得IGBT器件热阻的系统和方法,属于大功率器件的技术领域。本系统包括建模模块、网格划分模块、施加条件模块、温度分布模块和计算热阻模块;建模模块根据IGBT器件的组件的特性参数建立三维模型;网格划分模块将...
董少华
朱阳军
卢烁今
胡爱斌
文献传递
半导体器件封装结构的检测方法
本发明提供了一种半导体器件封装结构的检测方法,包括:利用热阻测试仪检测待测的半导体器件封装结构,得到第一微分热阻结构函数曲线;对该封装结构进行失效试验;利用热阻测试仪检测该封装结构,得到第二微分热阻结构函数曲线;比较所得...
董少华
朱阳军
卢烁今
田晓丽
一种IGBT结壳热阻的测量方法
本发明公开了一种IGBT结壳热阻的测量方法,包括:提供第一待测IGBT,第一待测IGBT包括:封装芯片、封装外壳和散热器;提供第二待测IGBT,第二待测IGBT包括:封装芯片、封装外壳、散热器以及位于封装外壳与散热器之间...
董少华
朱阳军
陆江
王任卿
佘超群
文献传递
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张