许斌
- 作品数：17 被引量：24H指数：4
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 发文基金：模拟集成电路重点实验室基金更多>>
- 相关领域：电子电信环境科学与工程更多>>
- VLSI CMOS模拟集成电路可靠性仿真设计技术被引量：3
- 2013年
- 随着超大规模CMOS模拟集成电路工艺技术进入纳米阶段,模拟集成电路面临着日益严峻的可靠性挑战,可靠性仿真设计技术已经成为提升电路固有可靠性的重要途径。对现有的模拟集成电路可靠性仿真设计的文献资料进行了总结,探讨了集成电路可靠性仿真分析的高效方法,这些方法能够帮助电路设计师对电路进行分析,并找出其中的薄弱环节。介绍了典型的更具适应性和自愈能力的模拟集成电路设计技术。
- 许斌罗俊
- 关键词：超大规模集成电路模拟集成电路纳米CMOS
- 高压半导体介质耐压终端
- 本发明提供一种高压半导体介质耐压终端，包括高掺杂半导体材料层、形成于高掺杂半导体材料层上的外延层、外延层顶部部分区域处理后形成的有源器件区，在有源器件区的一侧开设有第一深槽，第一深槽垂直穿过外延层，进入到高掺杂半导体材料...
- 谭开洲付强唐昭焕胡刚毅许斌陈光炳王健安王育新张振宇杨永晖钟怡刘勇黄磊王志宽朱坤峰陈文锁邱盛
- 文献传递
- 高速高性能单片直接数字频率合成器
- 付东兵张俊安许斌俞宙张瑞涛何伟杨虹臧剑栋陈光炳许沄马岗强
- 项目所属科学技术领域：电子与通信技术新一代数字数字化通信系统中，高速高性能直接数字频率合成器（DDS）是一个关键的构建单元，并且随着数字化、信息化的持续发展，其重要性和应用将更加普遍和深入，对其工作频率和功能扩展的要求也...
- 关键词：
- 关键词：数字频率合成器通信系统
- 集成电路标准规范中的LTPD抽样浅析被引量：1
- 2012年
- 介绍了集成电路失效率抽样检查的基础理论,论述集成电路标准规范中最常用的LTPD方案,并对LTPD抽样方案中的抽样样本大小进行了计算。
- 秦国林许斌罗俊
- 关键词：集成电路失效率
- 高压半导体介质耐压终端
- 本发明提供一种高压半导体介质耐压终端，包括高掺杂半导体材料层、形成于高掺杂半导体材料层上的外延层、外延层顶部部分区域处理后形成的有源器件区，在有源器件区的一侧开设有第一深槽，第一深槽垂直穿过外延层，进入到高掺杂半导体材料...
- 谭开洲付强唐昭焕胡刚毅许斌陈光炳王健安王育新张振宇杨永晖钟怡刘勇黄磊王志宽朱坤峰陈文锁邱盛
- 文献传递
- 结构相似性原理在半导体集成电路检验中的应用被引量：2
- 2002年
- 介绍了如何应用结构相似性程序对半导体集成电路的最终检验进行分组和试验,从而提高检验效率,降低检验成本。
- 许斌
- 关键词：半导体集成电路
- 评价引线键合气密性封装模拟集成电路贮存寿命的方法
- 本发明提供一种引线键合气密性封装模拟集成电路贮存寿命评估方法。该方法包括步骤：选取筛选合格的样品随机分为若干组；测试并计算一组样品内部的相对湿度及键合丝的键合强度平均值；利用恒定温度应力、温度循环和恒定湿热三组加速应力进...
- 罗俊李晓红许斌邓永芳刘凡秦国林徐学良胡波王健安陈光炳
- 文献传递
- 微纳米CMOS VLSI电路可靠性仿真与设计被引量：5
- 2012年
- 介绍了CMOS VLSI的可靠性建模和仿真技术的发展历史、相应的仿真工具、失效机理等效电路和算法,重点总结了当前最新的CMOS超大规模集成电路可靠性建模仿真技术,为促进我国集成电路可靠性设计水平起到积极的作用。
- 罗俊郝跃秦国林谭开洲王健安胡刚毅许斌刘凡黄晓宗唐昭焕刘勇
- 关键词：超大规模集成电路
- 集成电路圆片级可靠性测试被引量：4
- 2013年
- 在集成电路制造厂的工艺监控体系中引入可靠性监控对于控制产品的可靠性十分重要。圆片级可靠性测试技术通过对集成电路产品的工艺过程进行可靠性检测,能够为集成电路制造工艺提供及时的可靠性信息反馈。圆片级可靠性测试通常是采用高加速应力对各种可靠性测试结构进行测试,以实现快速的工艺可靠性评价。对半导体集成电路圆片级可靠性测试的背景、现状和发展趋势进行了概况和探讨,介绍了目前在VLSI生产中应用最为广泛的栅氧化层经时击穿、电迁移和热载流子注入效应的可靠性测试结构。
- 秦国林许斌罗俊
- 关键词：集成电路制造热载流子注入电迁移
- 电子元器件加速寿命试验的挑战与对策被引量：6
- 2013年
- 加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法。详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题;通过一个实例,说明了不充分的加速寿命试验最终可能在现场应用中引起严重的事故;探讨了如何基于上述挑战,改进加速寿命试验设计的措施,以期促进我国电子元器件加速寿命试验技术的发展。
- 许斌
- 关键词：高可靠性电子元器件加速寿命试验
