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张宏毅

作品数：9 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院半导体研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 3篇会议论文

主题

  • 3篇调制
  • 3篇光学
  • 3篇差分
  • 2篇调制器
  • 2篇信号
  • 2篇应变场
  • 2篇应力
  • 2篇应力分布
  • 2篇荧光
  • 2篇荧光性
  • 2篇荧光性质
  • 2篇偏振
  • 2篇自组织量子点
  • 2篇量子
  • 2篇量子点
  • 2篇光谱
  • 2篇光性质
  • 2篇光学方法
  • 2篇测量系统
  • 1篇低温环境

机构

  • 9篇中国科学院

作者

  • 9篇陈涌海
  • 9篇张宏毅
  • 6篇高寒松
  • 4篇刘雨
  • 2篇俞金玲
  • 2篇黄威
  • 2篇武树杰
  • 1篇叶小玲
  • 1篇李远
  • 1篇秦旭东

传媒

  • 1篇第13届全国...

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
  • 2篇2015
  • 2篇2014
  • 2篇2013
  • 1篇2012
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
自支撑GaN位错应变场的研究
在GaN外延材料中,存在着大量的位错,这些位错对GaN基材料和器件的电学和光学性质有着极大的影响.位错是由于GaN在生长过程中热应力(或其他外力)作用,使GaN中某一部分(沿滑移面)发生滑移,已滑移区与未滑移区的分界线称...
高寒松陈涌海刘雨黄威张宏毅
关键词：位错应变场
半导体材料微区应力测试系统
本发明公开了一种半导体微区应力测试系统。系统包括激光光源、空间滤波器、起偏器、检偏器、物镜、载物台、光弹性调制器、探测器及锁相放大器，采用计算机控制逐点扫描并采集处理数据。通过测量材料表面相互垂直的两个方向上的光强反射比...
高寒松陈涌海张宏毅刘雨
文献传递
微区反射差分光谱研究纳米压痕产生的应变场
高寒松陈涌海张宏毅刘雨武树杰俞金玲
材料的微区应力测试系统
本发明公开了一种材料的微区应力测试系统，其采用微区透射差分偏振谱法(μ-TDS，microscopic transmission difference spectroscopy)建立。整个测试系统包括线偏振激光源(1)、...
高寒松陈涌海刘雨张宏毅黄威朱来攀李远邬庆
文献传递
微区反射差分光谱的研究
差分光谱(RDS)是上世纪80 年代中期Aspnes 等人在椭圆偏振光谱仪的基础上发展而来的一种测量平面光学各项异性的一种有效手段.微区反射差分光谱(μRDS)在RDS 的基础上,通过增加一个物镜形成一套灵敏度和分辨率很...
高寒松张宏毅俞金玲武树杰陈涌海
关键词：GAN
光学方法精确确定自组织量子点的位置的方法
本发明提出了一种用光学方法精确自组织量子点空间位置的方法。该方法利用金圆盘作标记，用共聚焦扫描显微镜测量标记样品的反射信号和荧光信号，通过分析成像数据，仔细校正系统误差之后，得到量子点相对金属标记的空间位置，实现单个量子...
张宏毅陈涌海
文献传递
一种微区荧光扫描测量系统
本发明公开了一种微区荧光扫描测量系统，包括：激发光光源；激发光路部分，输入端与激发光光源连接，输出端与真空样品室相连，用于引导激光入射至真空样品室内的样品；荧光信号收集光路部分，收集样品上发出的荧光信号；微区成像光路部分...
秦旭东张宏毅叶小玲陈涌海
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光学方法精确确定自组织量子点的位置的方法
本发明提出了一种用光学方法精确自组织量子点空间位置的方法。该方法利用金圆盘作标记，用共聚焦扫描显微镜测量标记样品的反射信号和荧光信号，通过分析成像数据，仔细校正系统误差之后，得到量子点相对金属标记的空间位置，实现单个量子...
张宏毅陈涌海
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光弹调制测量系统
本发明提供了一种光弹调制测量系统。该光弹调制测量系统中，引入一参考信号，该参考信号中包含了光弹调制器对偏振状态的调制偏差的信息，通过该参考信号抑制因光弹调制器调制状态偏差导致的数据噪声。
张宏毅陈涌海高寒松
文献传递
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