胡仁芳
- 作品数:19 被引量:6H指数:2
- 供职机构:中国科学技术大学更多>>
- 发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家重大技术装备创新研制项目国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:理学机械工程电子电信核科学技术更多>>
- 一种用于X射线光栅相衬成像装置的图像校正方法
- 本发明提供了用于X射线光栅相衬成像装置的探测器图像校正方法,该方法首先在X射线管关闭的状态下,采集探测器输出的图像,作为暗电流校正图像I<Sub>offset</Sub>,然后将源光栅、分束光栅和分析光栅放回光路中,调整...
- 刘刚胡仁芳昝贵彬韩华杰高昆陆亚林
- 文献传递
- 一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法
- 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法,该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器,其中:X光机用于发出X射线;源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干...
- 吴自玉王圣浩胡仁芳韩华杰张灿王志立高昆
- 文献传递
- X射线光栅相衬成像中保留源光栅的探测器校正方法被引量:1
- 2018年
- 本文提出了一种X射线光栅相衬成像探测器校正方法,该方法无需移除靠近光源的源光栅,而是将其与光源作为一个整体参与增益校正。在基于几何投影的光栅相衬成像系统上,开展了利用传统的探测器校正与本文提出的探测器校正方法的对比实验,两种方法获得了一致的结果。实验结果表明,本文方法大幅简化了实验操作流程,提高了系统的稳定性,对于实现X射线相衬成像的临床应用有一定的推进意义。
- 胡仁芳冯大敏吴朝高昆潘志云刘刚
- 一种无损检测高精度元件缺陷的方法
- 本发明公开了一种无损检测高精度元件缺陷的方法,包括:搭建依次设置的且包含X射线光源、源光栅G0、分束光栅G1、分析光栅G2及探测器的光路,该光路中的源光栅G0的周期与分析光栅G2的周期、分束光栅G1的周期与分析光栅G2的...
- 刘刚张灿王圣浩胡仁芳韩华杰侯双月陆亚林
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- 一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法
- 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法,该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器,其中:X光机用于发出X射线;源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干...
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- 基于X射线光栅相位衬度的鲫鱼无损成像研究
- 2017年
- 近年来,光栅相位衬度成像成为当前X射线成像学界的研究热点,因其与传统X光源的高度兼容性而被认为是未来临床医学无损诊断的关键技术.与现有X射线吸收衬度成像技术相比,相位衬度成像技术对软组织具有不可替代的分辨能力.基于几何投影的X射线光栅相位衬度成像技术,无损研究了本地鲫鱼的鱼体结构,利用福尔马林溶液处理样品,发现成像结果清楚地显示出鱼肠组织的结构.这是第一次利用X射线光栅相位衬度成像技术观察到鱼肠组织.
- 冯大敏胡仁芳王圣浩高昆潘志云
- 关键词:鲫鱼
- 基于X射线相衬成像技术的光栅品质无损检测(英文)
- 2016年
- 提出了一种基于X射线光栅像衬成像技术的光栅品质无损检测方法.我们发现利用传统的吸收信号很容易检测到光栅电镀缺陷,而由非均匀紫外曝光导致的光栅缺陷则可以通过相衬信号进行检测.实验结果证明,在一种利用实验室光源同时产生吸收信号和相位信号的大视场实验平台上,X射线相位衬成像技术可以很好地运用到光栅缺陷的快速检测以及其他类似的电刻产品的品质检测上.
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- 关键词:无损检测
- X射线光栅相位衬度成像技术中背景扣除方法的比较(英文)被引量:2
- 2017年
- 在基于Talbot-Lau干涉仪的X射线相位衬度成像技术中,为了得到纯样品的相位信息,背景扣除是一个必不可少的步骤。本研究对相位衬度成像中的背景扣除方法进行了研究,尤其是针对目前经常使用的一种背景扣除方法,提出了一种新的相位解缠绕方案,即[arg(S)-arg(B)]cyclic shift算法,该方案的核心思想是对原始图像序列进行循环移位操作,从而达到改变相位的目的。实验结果和数值分析表明,该相位解缠绕方案可以完全消除上述背景扣除方法中的相位缠绕现象。同时,基于这种方案,相位的有效测量范围可以根据情况灵活调节,如调为(-π+3,π+3],而目前常用背景扣除方法的相位测量范围都是固定在(-π,π]。
- 杨萌胡仁芳王圣浩吴朝田扬超
- 一种X射线光栅相衬成像装置和成像方法
- 本发明公开了一种X射线相位衬度成像装置和成像方法,装置包括X射线管(11)、源光栅(12)、样品台‑、分束光栅(13)、分析光栅(15)和X射线探测器(16),各部件的中心都在水平方向上共轴。其中,源光栅(12)、分束光...
- 刘刚胡仁芳昝贵彬韩华杰高昆陆亚林
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- 一种骨密度的测量方法及装置
- 本发明公开了一种骨密度的测量方法及装置,相关方法包括:获取被测样品的X射线图像,以及移出被测样品后的背景X射线图像,分别记为样品图像与背景图像;根据获取到的样品图像与背景图像计算被测样品的折射信息与吸收信息;根据所述被测...
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