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胡明亮

作品数:8 被引量:2H指数:1
供职机构:长春理工大学更多>>
相关领域:理学航空宇航科学技术化学工程更多>>

文献类型

  • 5篇专利
  • 3篇期刊文章

领域

  • 1篇化学工程
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇理学

主题

  • 3篇单晶
  • 3篇刀架
  • 3篇悬架
  • 3篇燕尾槽
  • 3篇偏角
  • 3篇晶面
  • 3篇工艺技术
  • 3篇光栅
  • 3篇测力
  • 3篇测力仪
  • 2篇单晶材料
  • 2篇直角坐标系
  • 2篇未知量
  • 2篇晶系
  • 2篇空间直角坐标...
  • 1篇三点法
  • 1篇射线衍射
  • 1篇伺服
  • 1篇转鼓
  • 1篇转台

机构

  • 8篇长春理工大学

作者

  • 8篇史国权
  • 8篇胡明亮
  • 6篇石广丰
  • 5篇肖为
  • 3篇宋林森
  • 3篇吕洋洋
  • 3篇王磊
  • 3篇丁健生
  • 3篇蔡宏彬

传媒

  • 3篇中国新技术新...

年份

  • 2篇2015
  • 5篇2014
  • 1篇2013
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
单晶晶面偏角及偏向测算方法
单晶晶面偏角及偏向测算方法属于单晶材料定向检测及加工技术领域。现有技术需要反复对晶体做偏角定向。本发明采用X射线晶体定向仪测量待测晶面上位于同一平面上的任意三点衍射角,标注所测三点的位置;连接所测三点成三角形,量出所述三...
石广丰史国权胡明亮
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光栅机械刻划工艺试验装置
光栅机械刻划工艺试验装置属于光栅工艺技术领域。现有技术无法调节刻划刀具装夹角度,无法调整工件水平度。在本发明中,龙门悬架安装在底座上,刀架刚性悬挂在龙门悬架横梁中部;刻划刀具安装在刀架下端;定位平台与刀架在Z方向上对应并...
石广丰史国权宋林森王磊肖为吕洋洋蔡宏彬丁健生胡明亮周锐奇
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光栅机械刻划工艺试验装置
光栅机械刻划工艺试验装置属于光栅工艺技术领域。现有技术无法调节刻划刀具装夹角度,无法调整工件水平度。在本发明中,龙门悬架安装在底座上,刀架刚性悬挂在龙门悬架横梁中部;刻划刀具安装在刀架下端;定位平台与刀架在Z方向上对应并...
石广丰史国权宋林森王磊肖为吕洋洋蔡宏彬丁健生胡明亮周锐奇
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光栅机械刻划工艺试验装置
光栅机械刻划工艺试验装置属于光栅工艺技术领域。现有技术无法调节刻划刀具装夹角度,无法调整工件水平度。在本实用新型中,龙门悬架安装在底座上,刀架刚性悬挂在龙门悬架横梁中部;刻划刀具安装在刀架下端;定位平台与刀架在Z方向上对...
石广丰史国权宋林森王磊肖为吕洋洋蔡宏彬丁健生胡明亮周锐奇
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非规则六面转鼓加工中转台的伺服控制研究
2014年
为了实现对转鼓加工中转台的自动化定位,以满足转台的高精度定位的要求,根据加工转鼓的特点,本文提出了将模糊PID应用于位置环,而电流环和速度环仍采用常规PID控制的方法。通过仿真结果表明,该方法比常规PID具有更好的控制效果。
肖为史国权胡明亮
关键词:转鼓转台模糊PID
二维数控精密转台精度计算与分析
2014年
根据二维转鼓的生产要求和提出的技术指标,对二维数控精密转台进行了精度计算和分析。介绍了对转台精度起主要影响作用的各项误差,得到二维数控精密转台的指向误差,并对指向误差进行分配,得出二维数控精密转台三类误差指标。
周锐琦史国权胡明亮
单晶晶面偏角及偏向测算方法
单晶晶面偏角及偏向测算方法属于单晶材料定向检测及加工技术领域。现有技术需要反复对晶体做偏角定向。本发明采用X射线晶体定向仪测量待测晶面上位于同一平面上的任意三点衍射角,标注所测三点的位置;连接所测三点成三角形,量出所述三...
石广丰史国权胡明亮
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一种单晶光学晶体的晶面偏角及偏向测算方法被引量:2
2014年
本文提出了一种运用三点法来求取单晶实际切割晶面相对于理想切割晶面方位角度的一种定向简便计算方法。单晶光学晶体晶面由于生长和切割误差等原因,往往造成实际切割晶面与理想切割晶面有偏角。为了获得这种偏角关系进行晶体的准确定向、切割加工,采用YX-2型X射线晶体定向仪与传统的数学计算方法相结合,运用三点法即可准确计算出实际切割晶面任意方位与理想切割晶面之间的偏角大小及具体偏向。晶体定向准确度高,操作方便,快速简捷,费用便宜,可准确地确定晶体的切割方向。
胡明亮史国权石广丰肖为周锐琦
关键词:X射线衍射三点法
共1页<1>
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