潘伟
- 作品数：18 被引量：117H指数：6
- 供职机构：上海交通大学电子信息与电气工程学院更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金上海市科学技术发展基金国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：机械工程金属学及工艺理学农业科学更多>>
- 面向对象的板料成形过程模具集成化设计思想被引量：2
- 2001年
- 根据板料成形过程 ,并利用目前的一些先进制造工艺和技术 ,结合CAD/CAM和仿真软件 ,提出一个面向对象的、板料成形过程模具集成化设计系统。介绍了系统的组成部分、功能及实现过程。
- 杨建华潘伟何丹农彭颖红阮雪榆
- 关键词：板料成形集成化知识源面向对象CADCAM
- 结构光测量中获取高精度相位的新方法被引量：17
- 2004年
- 随着制造技术的快速发展 ,三维光学测量技术也得到迅速的发展 ,利用双目CCD(电耦合插件 )摄像机记录的光栅投影测量技术是一种新型的光学测量方法。在该方法的测量过程中 ,通过测量相位值取得测量空间。为了获得连续的高精度测量相位值 ,提出一种结合了格雷 (Gray)编码并能够优化相位精度的相移方法 ,该方法通过投影相位传递函数来优化测量相位值。为了消除光栅投影图像中非正弦、周期变化和其他干扰因素的影响 ,给出投影光栅一种新的光强函数 ,利用这个光强函数能够进一步提高投影光栅测量相位精度。最终 ,通过插值测量相位精度能达到亚像素级。
- 潘伟赵毅阮雪榆
- 关键词：结构光测量相移相位传递函数
- 反向工程中光栅投影测量系统关键技术的研究
- 光学非接触测量技术是反向工程(RE)中数据获取的关键技术,最近发展起来的双目CCD光栅投影结构光测量法可以一次同时获得一个面的高密度点云数据,较之传统的测量技术具有测量速度快、表示精度高的优点,因而得到越来越广泛的应用,...
- 潘伟
- 关键词：相移光栅投影配准
- 文献传递
- 反向工程中测量点云配准的新方法被引量：4
- 2003年
- 在光学非接触三维测量中,复杂对象的重构需要多组测量数据的配准。为了获得好的配准结果,提出一种新的配准方法——直接误差分析配准方法。该方法基于一种新型的双目CCD光栅投影测量系统进行测量和分析。实验结果表明该测量方法的配准误差大约0.2mm左右,从而证实该方法的可行性。
- 潘伟赵毅阮雪榆
- 关键词：点云配准误差分析
- 提高光栅投影测量精度的相移精确测量法被引量：15
- 2003年
- 在光栅投影测量的相位计算中 ,采用 Gray编码和相移相结合的方法 ,并针对当前光栅投影测量中相位计算精度不高的问题 ,提出一种新的相移方法 .与传统相移方法相比 ,该方法采用新的投影光栅光强函数 .考虑到光栅投影测量中可能出现的标定误差、投影光非正弦模式以及其他干扰因素 ,在该函数中加入对这些干扰的纠正值 ,从而减少由这些干扰产生的不利影响 ,进一步提高投影光栅和对象测量的精度 .通过对邻近点插值获得的投影光栅 ,条纹精度可以达到亚像素级 .对实际测量获得的投影光栅图像的处理实验 。
- 潘伟赵毅
- 关键词：光栅投影相移非正弦
- 相移法在光栅投影测量中的应用被引量：14
- 2003年
- 利用双目CCD相机记录的光栅投影测量技术是一种新型的光学测量方法。为了获得高精度测量相位值,提出一种优化相位测量精度的相移方法。该方法通过投影相传递函数和投影光的光强函数计算相位值,并考虑了测量投影光非正弦、非周期性的影响,提高了投影光栅的条纹精度和相位精度,相位精度为像素级,通过插值可达到亚像素级。
- 潘伟赵毅阮雪榆
- 关键词：相移
- 适合使用压边圈的临界计算及数值模拟被引量：2
- 2001年
- 在复杂的板料成形过程中 ,研究压边圈的规律尤其重要。以圆筒形零件为例 ,通过能量法给出压边圈防皱的理论依据 ,据此理论依据使用压边圈在板料成形过程中防皱。通过数值模拟软件 Dy-naform,对具体板料成形过程进行验证 ,得到与理论值相符的模拟结果 。
- 杨建华潘伟何丹农彭颖红
- 关键词：压边圈能量法数值模拟板料成形冲压
- 板料成形过程中拉延筋抗力的实验测试被引量：4
- 2002年
- 针对理论计算拉延筋抗力的复杂性 ,借助一套拉深实验测试系统 ,以盒形件拉深过程为研究对象 ,提出了一种通过实验方法简便测试拉延筋抗力的方法 ,即通过测定有、无拉延筋前后的总拉深力可以简便地计算出拉延筋抗力的大小 .将实验结果与数值模拟结果进行了对比计算 ,表明试验方法得到的结果与数值模拟的结果相吻合 ,说明了实验方法的正确性 .
- 杨建华潘伟何丹农彭颖红
- 关键词：板料成形实验测试数值模拟
- 板料多道次拉深成形规律和性能的研究被引量：13
- 2002年
- 在物理模拟的基础上 ,研究了板料拉深成形过程中 ,材料的性能参数和工艺参数对板料成形性能的影响 ,着重分析了对多道次拉深成形的影响。结果表明 ,无论是材料性能参数还是材料的工艺参数都对再拉深的影响比对单道次拉深的影响要大得多 ,但两种参数对多道次拉深的影响过程前后是一致的。同时可以看出 ,多道次拉深之间是相互影响的 。
- 杨建华潘伟何丹农彭颖红
- 关键词：多道次拉深物理模拟板料成形性能参数工艺参数
- 光栅投影测量技术中的自适应采样方法被引量：2
- 2004年
- 近年来 ,光学技术在测量领域的应用使测量获得的数据呈十几倍甚至几十倍地增长 ,造成了数据处理的困难。针对光栅投影非接触测量方法获得的海量数据 ,提出一种基于曲面变分的自适应采样方法以减少测量获得的数据量 ,并给出了采样的精度计算方法。根据测量对象的曲面变分进行自适应采样 ,获得测量点云 ,并根据自适应采样数据重构 CAD模型。采样精度可以达到 2 .3μm,拟合精度小于 7.2 μm。
- 潘伟赵毅
- 关键词：自适应采样采样间隔
