张玉喆
- 作品数：2 被引量：3H指数：1
- 供职机构：辽宁大学更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术更多>>
- OEM压阻芯片性能测试及装置
- 2009年
- OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流、击穿。对测试项目的合格判定标准实现了开放式管理,可根据不同类别的传感器芯片,设置不同的合格判定标准;在击穿电压测试项目中,对反向偏置电压设置实现了开放式管理,可根据不同的要求,设置不同的反向偏置电压,方便了应用。
- 匡石冯艳敏郑东明徐长伍张玉喆
- 关键词：失调电压击穿电压
- 基于KEITHLEY2000的传感器稳定性测试方法被引量：3
- 2009年
- 针对传感器稳定性的测试需要,基于KEITHLEY2000表的功能和SCAN卡的功能,对其应用进行了二次开发,设计了单通道传感器稳定性测试和多通道传感器稳定性测试的硬件平台。通过对KEITHLEY2000表的RS-232通讯参数设置、测试参数设置进行研究,在.net平台下用C#语言完成了传感器数据采集和传感器稳定性数据的分析程序,实现了传感器稳定性数据的自动测试功能。测试精度与KEITHLEY2000表的测试精度相同。
- 匡石刘波陈玉玲张玉喆
- 关键词：传感器稳定性内存数据
