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周军连

作品数:25 被引量:111H指数:6
供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
发文基金:国家科技支撑计划更多>>
相关领域:电子电信兵器科学与技术经济管理军事更多>>

文献类型

  • 19篇期刊文章
  • 4篇专利
  • 1篇会议论文
  • 1篇标准

领域

  • 11篇电子电信
  • 2篇经济管理
  • 2篇军事
  • 2篇兵器科学与技...
  • 1篇机械工程
  • 1篇电气工程
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇交通运输工程
  • 1篇环境科学与工...

主题

  • 8篇元器件
  • 6篇可靠性
  • 5篇电子元
  • 5篇电子元器件
  • 4篇失效率
  • 3篇SLD
  • 2篇电路
  • 2篇电子产品
  • 2篇多芯片
  • 2篇多芯片组件
  • 2篇制冷
  • 2篇制冷器
  • 2篇外贴
  • 2篇温度系数
  • 2篇无铅
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片组件
  • 2篇可靠性评估
  • 2篇互连
  • 2篇加速寿命试验

机构

  • 25篇信息产业部电...
  • 1篇电子科技大学
  • 1篇工业和信息化...
  • 1篇中国赛宝实验...

作者

  • 25篇周军连
  • 9篇任艳
  • 8篇聂国健
  • 7篇于迪
  • 4篇杨云
  • 3篇史典阳
  • 3篇林长苓
  • 2篇翟芳
  • 2篇毕锦栋
  • 2篇余昭杰
  • 2篇莫郁薇
  • 2篇郑丽香
  • 1篇张倩
  • 1篇陈赟
  • 1篇马永耀
  • 1篇王蕴辉
  • 1篇庞富丽
  • 1篇张三娣
  • 1篇潘勇
  • 1篇郑敏贵

传媒

  • 8篇电子产品可靠...
  • 2篇质量与可靠性
  • 2篇电子元件与材...
  • 2篇科技视界
  • 1篇科技管理研究
  • 1篇机床与液压
  • 1篇电力电子技术
  • 1篇中国集成电路
  • 1篇中国管理信息...

年份

  • 1篇2023
  • 3篇2021
  • 3篇2019
  • 1篇2018
  • 3篇2017
  • 2篇2016
  • 2篇2015
  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2008
  • 1篇2007
  • 2篇2006
25 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
SLD器件可靠性评估方法
本发明涉及一种SLD器件可靠性评估方法,包括:获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数,并将管芯的基本失效率和温度系数的乘积转换为管芯的失效参数;获取SLD器件内光纤焊点的耦合失效率,生成光纤焊点的失效参数;获取SLD...
史典阳李海军聂国建任艳周军连于迪
美国防后勤局使用DNA标识加强供应链管控成效研究
2021年
为阻止伪冒电子元器件在美国国防电子供应链中的泛滥,美国国防后勤局于2012年1月组织研制出植物脱氧核糖核酸(DNA)标识技术,并以国防指令形式要求从当年11月起,微电路产品供应商向国防后勤局所供商品都必须带有DNA标识。2014年,国防后勤局陆海军部电子产品测试中心(ETPC)成立DNA标识实验室,统一对国防后勤局所购微电子器件进行DNA标识。国防后勤局至今仍在使用DNA标识技术,已标识超过数十万个微电路,并准备扩展到更多元器件和系统组件中。本文通过全面梳理DNA标识技术研发和使用全过程,分析使用成效和存在问题等方面,以期对我国电子元器件流转过程的监管提供参考。
周文杰张倩张倩周军连
基于马尔可夫过程的UPS可靠性指标的计算被引量:1
2017年
不间断电源(UPS)是在电网异常的情况下不间断地为电器负载设备提供后备交流电源,以维持电器正常运作的设备,目前其已在诸多领域中得到了广泛的应用。因此,基于六性协同工作平台的马尔可夫过程模块对某UPS系统的可靠性指标进行了认证和分析。首先,简单地介绍了UPS系统及其可靠性建模方法;其次,概述了可维修系统的马尔可夫过程求解;然后,阐述了六性协同工作平台和马尔可夫过程模块;最后,对利用六性协同工作平台的马尔可夫过程模块计算UPS系统可靠性指标的具体过程进行了详细的介绍,对于快速地求解UPS系统的可靠性水平具有重要的意义。
毕锦栋张剑伟朱启新张三娣周军连
关键词:不间断电源
基于加速寿命试验的IGBT可靠性预计模型研究被引量:13
2017年
随着电子元器件技术的不断发展,绝缘栅双极晶体管(IGBT)已得到了越来越广泛的应用,但其预计模型的缺失或不完善使得用户在可靠性分析过程中缺乏指导,影响工作的完整性和准确性。基于国内IGBT芯片外购、自主封装的研制生产现状及工程应用主要的失效模式、机理,结合国内外主流预计标准及评估方法,建立国产IGBT可靠性预计模型架构。选择典型IGBT开展温度循环试验,利用对数正态分布下的图估计法、最优线性无偏估计及最小二乘法对试验数据进行分析处理,确定封装模型系数定量表征,应用国外芯片失效数据确定芯片模型系数表征,从而完成国产IGBT可靠性预计模型建立,为国产元器件工程应用过程中的可靠性定量分析提供技术参考。
任艳彭琦于迪周军连
关键词:绝缘栅双极晶体管加速寿命试验
电子产品生态设计实施要素分析被引量:4
2014年
本文首先简单介绍生态设计的内涵及要求,然后引出生态设计面临的艰巨挑战,最后重点分析五个可以帮助电子产品设计师、产品开发管理人员及环境专家实施生态设计的要素。
马永耀余昭杰史典阳周军连
关键词:电子产品生态设计
基于加速寿命试验的SLD可靠性预计模型研究被引量:4
2018年
超辐射发光二极管(SLD)已广泛应用于航空、航天等多个领域,但其预计模型的缺失使得SLD的可靠性分析工作缺乏有效指导。本文基于SLD主要失效模式、失效机理以及典型诱发应力,构建SLD可靠性预计模型,开展加速寿命试验,利用性能退化可靠性评估技术、图估计、最优线性无偏估计等方法对试验数据进行分析处理,确定管芯预计模型参数,应用国内外已有耦合、热阻及制冷器可靠性预计技术,确定管芯耦合及组件预计模型系数的表征,从而完成SLD可靠性预计模型的建立,为SLD工程应用过程中的可靠性分析工作提供技术参考。
杨云任艳于迪周军连戴泽林
关键词:光学器件超辐射发光二极管可靠性加速寿命试验
FloTHERM仿真技术在提取集成电路封装双热阻模型中的应用被引量:2
2016年
集成电路封装双热阻模型(RJC和RJB)可以用于电子产品散热分析时计算集成电路结温,然而基于实验测试来获取热阻模型需要花费大量经费和时间,因此可以借助仿真技术获取热阻参数。本文首先介绍仿真技术提取集成电路封装双热阻模型的流程,最后通过搭建符合JEDEC测试标准的虚拟热阻测试环境,对一款PBGA封装的集成电路进行双热阻模型提取。
余昭杰于迪任艳周军连许实清杨云
关键词:FLOTHERM仿真技术
电子设备可靠性预计模型及数据手册
本标准规定了常见元器件类型的预计模型、影响因子表征及相关数据,为其可靠性指标计算提供参考依据,从而辅助设备可靠性优化工作的开展。本标准适用于国产电子元器件。
于迪周军连莫郁薇潘勇聂国健任艳杨云翟芳
基于STM32+FPGA的多轴运动控制器的设计被引量:14
2021年
运动控制器是数控机床、高端机器人等自动化设备控制系统的核心。为保证控制器的实用性、实时性和稳定性,提出一种以STM32为主控制器、FPGA为辅助控制器的多轴运动控制器设计方案。给出了运动控制器的硬件电路设计,将S形加减速算法融入运动控制器,提高了控制精度,可有效避免过冲、振荡等现象的发生。在三维点胶机平台上对运动控制器的性能进行了测试,结果表明:点胶机各轴能按照设定的轨迹运动,运行平稳且实时性高,具备良好的应用前景。
胡呈祖周军连
关键词:多轴运动控制器
无铅对电子产品可靠性的影响被引量:2
2013年
主要阐述了无铅对电子产品可靠性的影响,进一步介绍了当前主流的、推荐的无铅替代合金材料以及无铅工艺的标准化工作现状。
庞富丽周军连
关键词:无铅可靠性
共3页<123>
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