吴义芳
- 作品数：11 被引量：19H指数：2
- 供职机构：北京大学信息科学技术学院电子学系更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信理学机械工程自动化与计算机技术更多>>
- 相位差分散射与散射介质特性关系研究
- 用双频稳频激光为光源,用光拍相位检测技术测量经样品散射后的光拍相位差随散射角变化关系,即可获得散射介质有关特性信息。这是一种区别于传统的通过测量光强以获取样品信息的新方法。1986年G,Johnston等人首次提出并称之...
- 吴义芳曾梅谭延军郑乐民
- 文献传递
- 以慢变化近似为基础的新型正弦相位调制半导体激光干涉仪被引量：1
- 1997年
- 提出并在实验上实现了一种以慢变化近似为基础的新型正弦相位调制半导体激光（ＳＰＭ－ＬＤ）干涉仪。原理上它不要求相位解调一次和二次谐波分量振幅在实验中必须保持相等，从而将动态范围提高了３～４个数量级且不损失精度。用压电陶瓷和微电机驱动位移。当压电陶瓷驱动位移大于半波长时，均方根误差为５ｎｍ。测量所得到的最大位移为１ｍｍ。系统能在噪声环境中进行自动实时位移测量。
- 吴义芳
- 关键词：正弦相位调制干涉仪半导体激光
- 微振动振幅的精密测量被引量：10
- 1989年
- 本文给出一种微振动振幅的精密测量方法.此方法采用光拍相位检测、伺服锁定干涉仪光程差和窄带检测技术,大大提高了信噪比.微振动振幅检测灵敏度达2.2×10^(-2)(?)/Hz^(1/2)(2kHz信号).
- 汤俊雄万炼吴义芳施清郑乐民
- 关键词：振幅振动
- 光拍窄带检测小位移
- 1991年
- 本文给出两种检测小振动位移的方法,其中光拍振幅窄带检测小位移灵敏度达5.2×10^(-4)nm(振动频率2kHz),且从噪声谱测试角度比较了振幅检测法与相位检测法。
- 万炼汤俊雄吴义芳施清郑乐民
- 以半导体激光器线性频率调制为基础的距离测量被引量：7
- 1999年
- 给出一种以频率调制连续波（ＦＭＣＷ）技术为基础的进行无接触、无累加误差和较大动态范围距离测量方法。由可调谐半导体激光器产生一个啁啾信号，通过测量拍信号频率计算距离。用商用ＧａＡｌＡｓ激光器组成的测量系统的动态范围为１ｍ，测距精度达１０－３。
- 吴义芳
- 关键词：半导体激光器
- 相位差分散射与散射介质特性关系研究
- 1992年
- 用双频稳频激光为光源,用光拍相位检测技术测量经样品散射后的光拍相位差随散射角变化关系,即可获得散射介质有关特性信息。这是一种区别于传统的通过测量光强以获取样品信息的新方法。1986年G,Johnston等人首次提出并称之为PDS方法。 在光源和探测器之间插入散射样品,当互相垂直的两种线偏振光通过散射介质时。
- 吴义芳曾梅谭延军郑乐民
- 关键词：散射介质相位差分无线电电子学散射角稳频激光器
- 频率调制连续波半导体激光雷达绝对距离的遥感测量
- 1996年
- 频率调制连续波半导体激光雷达绝对距离的遥感测量吴义芳（北京大学无线电电子学系区域光纤网及新型光通信系统国家重点实验室北京１００８７１）用光来测量距离有许多方法，不同方法测量的范围和分辨率差别很大。测量距离大于ｋｍ时使用脉冲激光；测量距离小于半波长时用...
- 吴义芳
- 关键词：半导体激光器激光雷达遥感测量
- 一种高分辨谱方法的建议——反卷积法被引量：1
- 1992年
- 在经典高分辨光谱技术中,通常可用一窄带滤波器(例如F-P干涉仪)作光谱分析元件,当滤波器带宽ΔνT远小于待分辨光谱线宽时可直接分辨出光谱线型。它的光谱分辨率取决于滤光器的通带宽度,但是ΔνT越窄,透过的光通量越小。因此,这种方法很难用于检测弱光,尤其是带宽又窄的弱光信号。 我们提出一种新的高分辨谱方法——反卷积法。其基本思想是用一带宽和待分辨光谱带宽相近的滤波器去替代传统的窄带滤波器,然后用反卷积方法复原出光谱线型。
- 吴义芳汤俊雄赵奕平郑乐民
- 关键词：谱方法光谱线型无线电电子学窄带滤波器光谱分辨率
- 半盲反卷积重构大气瑞利-米散射高分辨谱
- 1997年
- 详细讨论了在获取大气瑞利－米散射谱中，反卷积技术适用的条件、遇到的困难和采取的算法，以及为什么在信噪比为２０这一松弛条件下能重构出原线型。还讨论了用低分辨光谱分析元件获取高分辨光谱的可行性和途径。
- 吴义芳杨帆熊爱民赵奕平郑乐民
- 关键词：大气光学
- 一种高分辨谱方法的建议——反卷积法
- 在经典高分辨光谱技术中,通常可用一窄带滤波器(例如F-P干涉仪)作光谱分析元件,当滤波器带宽ΔνT远小于待分辨光谱线宽时可直接分辨出光谱线型。它的光谱分辨率取决于滤光器的通带宽度,但是ΔνT越窄,透过的光通量越小。因此,...
- 吴义芳汤俊雄赵奕平郑乐民
- 文献传递
